Wave Technology(WTI)-ウェーブ・テクノロジ

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

IoT開発に欠かせない組み込み技術って?

こんにちは。株式会社 Wave Technology ソフトウェア設計課の白子です。

「IoT」についてはその定義を改めてお伝えする必要もないほど我々の生活に浸透してきました。巷には特別な開発環境がなくてもPCに繋ぐだけで開発ができるような安価なガジェットがたくさん市販されていて、工作マニアの方でなくとも、夏休みの自由研究として手軽にIoTデバイスを工作できるような環境が整っています。

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計測装置の自動制御

みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。

今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。

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LTE-MとNB-IoTの違いは?

みなさん、こんにちは。
株式会社 Wave Technology 第一技術部の大塚です。

最近、お問い合わせがありました、IoT機器向けLPWA(Low Power Wide Area)方式の通信規格である、『 LTE-M 』と『 NB-IoT 』の違いについてお話ししたいと思います。

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バラスト電源の制御方法(定電流制御、定電力制御)

こんにちは。第二技術部電源設計課の渡部です。

みなさんバラスト電源というスイッチング電源をご存知でしょうか。車の前照灯や液晶プロジェクターなどの光源であるランプを安定な放電状態で点灯させる安定器のことをバラスト電源と呼びます。
一般的な定電圧あるいは定電流で制御を行う電源とは異なるので今回はバラスト電源制御の特徴について紹介させていただきます。

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パワーMOSFETのアバランシェ試験とは ~その3~

みなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。

前回のブログでお話ししたパワーMOSFETのアバランシェ耐量試験の続きです。

前回、アバランシェエネルギーが同じであっても、試験条件が異なればMOSFETのジャンクション温度Tjは異なるため、単純に比較できないことをご説明しました。では、前回と同じデバイスで、L負荷の値L=3 µH、アバランシェ電流IAS=50 Aの場合(ケース③)を考えてみましょう。

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イノベーションストリームKANSAI 2020に出展します ~Web展示:2020-11/16(月)~2021-1/31(日)~

株式会社Wave Technology(WTI)の石川高英です。

当社は龍谷大学様と共同で「イノベーションストリームKANSAI 2020」に出展させていただくことになりました。
2020-11/16(月)~2021-1/31(日)の間に、Web展示としてご覧になれます。

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代替コンデンサが特性不良のもとになる!? ~高周波アンプ整合回路のEOL対応はコンデンサの周波数特性も考慮した設計が必要です~

みなさんこんにちは、高周波機器設計課の井上です。私は主に業務用無線機に用いられる高周波電力増幅器の整合回路設計を行っております。

今回はコンデンサの生産中止(EOL:End Of Life)で経験したことを紹介いたします。

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次世代高速通信規格(5G)の普及と電源

みなさん、こんにちは。電源設計課の三嘴(みつはし)です。
今回は、次世代高速通信規格(5G)についてお話をしたいと思います。

2020年、今年の初めにとても注目されていた5Gのサービスについて、提供は開始されましたが、一方で、まだ使用できるエリアは限定的となっています。

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信頼性試験について知ろう!(パワーサイクル試験編)

こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。

突然ですが、皆さんは『信頼性試験』をご存知ですか?

ざっくり説明しますと、製品の信頼性(性能、耐久性、安全性、故障率など)を評価する様々な試験の総称です。主な目的は、設計どおりの性能となっているか確認することと、市場要求品質を満たしているかを評価することです。

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