Wave Technology(WTI)-ウェーブ・テクノロジ

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

受託評価サービス

受託評価サービス


受託評価サービスについて
受託評価サービスのメリット
お客様からのご要望が急増している評価サービス
その他サービス事例
 

受託評価サービスについて


受託評価サービスについて【受託評価サービスとは】

半導体をはじめとする各種電子部品や電気製品の電気特性や温度特性、その他動作特性といった、製品の特性評価業務の請負サービスです。
お客様から受託した評価を完了後、当社にて評価レポートを作成します。

  • 評価環境の設計開発を伴う受託評価
    ◆ 自動評価環境の構築
    ◆ 評価用基板の回路/基板設計・製作
    ◆ 計測評価用ソフトウェアの開発 ※NI社のLabVIEWTMを活用
    (PCベースの開発からリアルタイム性を必要とする組み込みベースの開発まで)
    ◆ 測定対象製品へのプロービングや、配線引き出しに便利な治具の設計・製作
  • 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験
     温度特性評価、信頼性評価など
  • パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価(AEC準拠の試験への対応)
  • リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案
     
    ※LabVIEWは、NI社の登録商標です。

 

 
当社のカスタム計測システムに関するお問い合わせの中で、「受託評価サービス」に関するお問い合わせが増えてきております。お客様が保有する開発リソースは、開発のコア領域にできる限り集中させ、周辺業務はアウトソースしたいといった理由でご依頼いただくケースが多いようです。
「受託評価サービス」は、カスタム計測システムの設計・開発を補完する位置づけでサービスをご提供してまいりましたが、専用サービスとして独立させることで、このご要望にお応えすることにいたしました。
 
近年は、パワーデバイスを中心に、車載用の電子部品でAEC準拠の試験・評価需要も増えつつあり、サービスの拡充を進めております。
 
その他にも、超低抵抗評価(μΩやnΩ)や微小電流(nAやpA)、微小電圧(nV)、大電流(300 A)、高電圧(600 V/1200 V)等、ニッチ領域での要素技術に関するご要望が増えつつあります。
 

 

受託評価サービスのメリット

  • 評価環境も当社にて準備できますので、評価サンプルをご準備いただくことで評価開始が可能です。
  • 電気系の専門知識がなくても評価したい内容をお伝えいただければ評価方法や評価項目を立案いたします。
  • 評価業務を当社に委託いただくことで、お客様は開発業務に注力いただくことができます。
  • 開発設計を主力としている当社は、「設計者目線」で評価結果を分析いたします。
  • 当社が保有する計測に特化したハードウェア/ソフトウェアのプラットフォームを活用し、最適な評価環境を構築します。
     
    その他、具体的なアイデアをお持ちでなくても、ご希望の内容をご相談いただければ、課題解決案をご提案します。

お客様からのご要望が急増している評価サービス

超抵抗評価サービス
超抵抗評価サービス
パワーサイクル試験
パワーサイクル試験

パワーモジュール評価
超低抵抗(微小抵抗)の評価でお困りではないでしょうか?
mΩ以下(μΩやnΩ)クラスの評価はWTIにご相談ください!
パワーサイクル試験は、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等で規格化されています。 ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供します。

 

その他サービス事例

  • パワーデバイス/パワーモジュール評価(静特性、動特性、各種信頼性)
  • 超低抵抗評価
  • AEC準拠の各種信頼性試験
  • 電子部品の各種信頼性試験
  • 舵角(角度)センサの性能評価
  • LEDチップの表面温度測定
  • エレベータの位置検出センサ評価
  • スマートフォン音質の温度・気圧依存性評価
  • 無線電力伝送(WPT)の距離・指向性評価
  • 電子たばこの電気的(温度)特性評価
  • 美容機器の電気的評価
  • 静電容量と温度の同期測定
  • 磁気センサアレイによる磁気評価
  • 市販電気製品に搭載された積層セラミックコンデンサ(MLCC)のメーカー依存性評価
  • バッテリー監視基板(BMU)の評価
  • 電気製品や部品のSパラメータ測定
  • アナログフロントエンド(アナデジ混在)ICの評価
  • フォトカプラの電気特性評価
  • その他、各種ICの選別試験や、ICの評価基板を用いた特性評価 など

 

 

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