大電流のパルス通電評価でお困りではないでしょうか？
半導体（パワー半導体やダイオード等）、電流センサ、電子部品、材料等の
大電流パルス通電評価は弊社にご相談ください！
大電流パルス通電評価サービスとは
車載関連などを含むパワーエレクトロニクス分野において、半導体などの電子部品の信頼性は重要なポイントとなります。信頼性を評価する上で一つの指標となるのが、瞬間的な大電流に対する耐性です。任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、試料の耐量や性能を評価するニーズが高まっています。
大電流パルス通電評価サービスでは、矩形波や正弦半波といった任意形状の大電流パルスを試料に印加し、試料の破壊耐量などを評価します。
- 電流条件：～1500 A
- 電圧条件：～150 V
- 制御パルス幅：1 ms以下まで可能
- 高温環境でも実施可能
上記以外の条件についても対応しますので、気軽にご相談ください。
図１ 大電流パルス通電 波形例
ダイオードのせん頭サージ電流IFSM評価の活用例
せん頭サージ電流IFSMとはダイオードの最大定格の一つで、電源投入時の突入電流（サージ電流）に対する指標となります。一般的には、50Hzまたは60Hzの商用周波数の正弦半波パルスの電流で定義されます。
ダイオードに対して実際にIFSM評価を実施した波形例を図 2に示します。印加する電流パルスIFの波形に加えて、ダイオードの順方向電圧VFも同時に測定し、破壊時の挙動を観察することも可能です。
大電流パルス通電評価サービスのその他活用例
- ダイオードのせん頭サージ電流IFSM評価 事例にリンクを飛ばす
- FETのドレイン電流に対するサージ電流耐量評価
- 電流センサの過電流パルスに対する耐量評価
- その他、様々な評価に関してお気軽にご相談ください。
お客様からのご要望が急増している評価サービス
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。 AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。 測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。 任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。
WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。