カスタム計測システム・受託評価
お客様の研究開発環境で求められる機能を、オーダー・メイドの「カスタム計測システム」という形でご提供いたします。
カスタム計測システム以外にも、受託評価、データ解析ツール（ソフトウェア）作成、治具製作まで、最適なサービスを幅広くご提供しております。
開発中の製品の評価などの際には、便利な装置やソフトウェアがないことが多いものです。
最初は、複数の評価装置を使用しながら、評価項目１つ１つを順番に手作業で測定することになります。
しかし、これも開発が進むにつれてサンプル数も評価項目数も増えてきますので、評価だけで膨大な時間を要することになります。信頼性試験や挙動監視等では、データロガーによる長時間のデータ集録が行われます。データから必要情報の抽出や情報の見える化を行うためには、膨大な時間を要し、場合によっては専任者の配置が必要になります。これらは結果として開発・評価効率の低下につながります。
そこで、『評価の自動化』や、『データ解析の自動化』が必要になります。
お客様の社内で自動計測環境やデータ解析ツールを自作するという選択肢もありますが、面倒であるばかりか、自動計測環境やデータ解析ツールを作ることがお客様側の本来の業務ではないので、自社製品の開発業務に時間を割けなくなるという問題も発生してしまいます。
また、評価を自動化しようとしても、カスタム回路が必要である等、計測器を制御するだけでは実現できないケースも多く見られます。
WTIのカスタム計測システムは、そのようなお困りのお客様のご要望をしっかりと捉え、課題を解決するための提案型サービスであることを特徴としております。
WTIでは、評価システムや解析ツールのご提案だけでなく、WTI内で必要な環境を構築して行う受託評価サービスも承っております。この他には、信頼性試験用途等で、一部標準品として販売しているシステムもございます。
お客様が具体的なアイデアをお持ちでなくても、イメージをお伝えいただくだけで、課題解決案をご提案いたします。
カスタム計測システム
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こんな方にオススメです
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治具の設計・製作
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こんな方にオススメです
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実績例
| 導体抵抗測定システム
詳細は↑をクリック |
導通モニタリングシステムとも呼ばれ、試験槽と連動し、抵抗値変動をリアルタイムにモニタリングできる。温度センサを活用することで、複数の試験槽を同時に扱うことができる。4線式でMin96チャンネル構成を基準に構成可能。 |
| 高速多チャンネル温度集録システム | 高速（10msec）多チャンネル（8チャンネル以上）での温度測定が可能。セミカスタム熱電対との組み合わせにより実現。半導体開発、液晶のLEDバックライト評価等で採用。弊社熱解析技術を活用した受託評価・解析も可能。 |
| トランスうなり音評価システム | トランス、リアクトル等の唸り音評価で適用。エンジニアモード、ワーカーモード等、目的に応じた操作モードを搭載。 |
| 磁気シールド効果測定治具 | 静磁場に対するシールド評価を目的とした治工具及び試験環境の構築。 当社シミュレーションサービスと組み合わせた実機とシミュレーションによる整合評価で実績あり。 |
| 瞬断検知システム (衝撃試験機連動) |
落下試験機、温度サイクル試験槽等と連動し、ハンダ接合部の瞬断を多チャンネルで同時モニタリングできる。Min 1μsec期間の瞬断を検知することが可能。 |
| 各種試験槽連動システム | 温度サイクル槽、高温槽、高温高湿槽等の運転状態を自動でモニタリングまたは制御することができる。他の計測器と連動して、セミカスタムな検査・モニタリング環境が構築できる。 |
| 自動配線チェッカー | 数百chの配線接続が正しく行われているかを、自動でチェックするシステム。 治具の内部配線チェック等で利用されている。 |
| 電池監視基板検査装置 | バッテリー（電池）の状態を監視するための検査基板の性能を検査するための検査装置。治具内に必要な機器を内蔵し、PCベースで検査することができる。 |
| バイアス試験装置 | 半導体デバイスのバイアス用試験治具からバイアス装置まで対応可能。 |
| カーブトレーサ自動測定システム
詳細は↑をクリック |
カーブトレーサ（370型及び370A型）を連結及び信号分配する中継BOX製作。カーブトレーサと中継BOXを制御して、自動測定する環境構築。等の実績あり。 構築環境を用い、弊社にて受託評価に対応可能。 |
| データ解析ツール／レポート作成
詳細は↑をクリック |
信頼性や評価で取得した生データに対し、必要データの抽出、あるいは解析を行い、エクセル等のofficeに出力するツール。人手で行われる作業を自動化することで、作業効率を高める。 |
| 圧力センサ評価システム | 半導体圧力センサの特性を自動で検査するためにシステム。各種計測器を組み合わせ構築。 |
| 半導体パッケージ インピーダンス測定システム |
RF系のデバイス、基板等のインピーダンスを測定。 |
| 基板検査用コンタクト治具 | 各種基板を検査するための、コンタクト治具。数pinの簡易なものから、数十pin以上の多pinタイプまで実績あり。 |
| DCバーンイン用治具 ボード |
RF系デバイスのDCバーンイン治具。 |
| 測定器中継ボックス | 計測器同士を接続するための中継BOX。 |
| 光学部品・光デバイス 評価治具 |
LD、LED等の工学系デバイス及び、CAP等の部品の光学特性を評価するための治具製作。パワーメータ等を組み合わせ、選別検査用に検査装置として仕上げることも可能。 |
| 半導体用カスタム ソケット/プローブ治具 |
カスタム仕様の検査用ソケット製作。 |
| エレベータ用センサ評価治具 | エレベータの位置検出に使われるセンサを評価するための治工具設計。 |
| LED温度評価用治具 | |
| 熱解析用不対流 チャンバー |
JEDECで規定される熱抵抗測定用の不対流チャンバーの製作。 |
| 各種計測器制御 (シリアル/GPIB/Ethernet/USB) |
各種通信プロトコルを使い、自動計測環境を構築。 |
カスタム計測技術を活かした環境による受託評価
当社が保有するカスタム計測技術やアナログ・デジタル技術といった要素技術を背景に、試験環境構築・受託評価サービスを提供しております。
これまで多くのご要望をいただき、対応させていただいておりますが、実際にご要望いただいた事例の背景をご紹介いたします。
①基本的な特性は評価できるが、特殊な条件については対応が難しい。
微小電流（nA）・微小電圧（nV）・微小抵抗（μΩ） 大電流（300A）、高電圧（600V）等
②EOL(生産中止・ディスコン)対応品や購入品の評価・測定であり、環境の準備から必要である。
→ 自社製品しか評価する環境がなく、対応する術がない。
③選別試験が必要であり、専用の環境が必要。
→ 環境構築、あるいは選別試験までを外部リソースで対応したい。
④材料開発をしているが、電気系には知見がなく、性能を評価する術がない。
⑤信頼性試験の投入設備は保有しているが、特性評価のための技術や環境構築に困っている。
⑥静特性と動特性（スイッチング等）の両方に対応することが難しい。
→ 静特性は計測器で測定できるが、動特性は経験と設備構築が必要。電子部品以外にもフィルム材やシールド材等の評価実績もございます。
システム製品につきましても、ご要望をお聞きし、当社の各専門部署で請け負うことができます。
＜試験環境構築事例＞
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 プローブ治具 |
＜試験用ボード 設計・製作事例＞
インターフェイスボード設計製作例（1）
インターフェイスボード設計製作例（2）
＜ソフトウェア事例（ユーザーインターフェイス）＞
＜サービス事例＞
試験環境構築・受託評価サービスの紹介動画もご覧ください
・カスタム計測の概要はこちら
・治具の設計・製作の詳細はこちら
・カスタム計測システム・治具の実績例はこちら
・カスタム計測技術を活かした環境による受託評価の詳細はこちら
・WTIブログもご覧ください
カスタム計測はIoTを救う！？
カスタム計測はIoTを救う！？（Part 2）
電子部品や製品の評価・試験を受託する会社は少ない！
WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。
