「movie.htm」の検索結果

事例4.ジョイスティックのEOL対応

<概要>

機械式8接点ジョイスティックの置き換えでは、サイズ、方式共に同等の代替品が無かったため、構造的制約からサイズを重視し2軸のアナログ式(可変抵抗式)ジョイスティックを選択した。 出力方式の変換(2軸のアナログ出力→8接点出力)には、小型ワンチップマイコンを採用したことで、上位回路やソフトウェアを変更すること無く置き換えを実現した。

概要

このようにWave TechnologyWTI)は幅広い保有技術から様々な技術課題に対して解決方法をご提案させていただくことが可能です。

<工期>

工期
 

全体工期:約2ヵ月

 
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事例3.デジタル制御電源アイソレーション回路変更

<概要>

デジタル制御電源の制御段と出力段の間に使用しているフォトカプラの生産中止に伴い、これをパルストランスに置き換えると共に出力段FETを入手が容易なデバイスへと変更する事で従来品より小型・高速化し、かつ部品供給の安定性を向上させた。

デジタル制御電源の制御段と出力段の間に使用しているフォトカプラの生産中止に伴い、これをパルストランスに置き換えると共に出力段FETを入手が容易なデバイスへと変更する事で従来品より小型・高速化し、かつ部品供給の安定性を向上させた。

 

<工期>

工期

 

全体工期:約1.8ヵ月

 

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事例2.電源回路部品のEOL対応に伴う実装基板の小型化

<概要>

プラズマ発生器、冷陰極管駆動などの高電圧回路基板で使用している高耐圧コンデンサの代替に伴い、基板レイアウトの見直しおよび部品の再選定を実施することで実装基板の小型化を図り、量産コストを抑制した。

プラズマ発生器、冷陰極管駆動などの高電圧回路基板で使用している高耐圧コンデンサの代替に伴い、基板レイアウトの見直しおよび部品の再選定を実施することで実装基板の小型化を図り、量産コストを抑制した。

 

<工期>

工期

 

全体工期:約1.5ヵ月

 

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事例1.マイコンEOLに対応したリニューアル設計

概要

お客様の産業機器向け制御基板で使用しているマイコンのEOLに伴う代替設計に際して、ワンチップマイコンを用いて同等機能を持つシステムに再設計を実施。
部品点数削減によるコスト削減と、部品入手性を改善しました。

 
事例1.マイコンEOLに対応したリニューアル設計
 

再設計内容

  • 生産中止となるマイコンをワンチップマイコンに置き換え、プログラム格納用ROMを内蔵FLASHに変更することで部品削減
  • 産業機器の状態記憶方法を変更することで部品削減

現行品: 外付けRAMに状態データを保存(バックアップ用電池併用)
 ↓
再設計品:マイコン内蔵RAMに状態データ保存。電源遮断時は内蔵FLASHに状態データを書き込み保持。

  • マイコン変更に伴う電源の再設計
  • 入出力機器、産業機器とのインターフェースが現行品と同等になるよう、インターフェースブロックに電圧変換機能を付加して再設計

 

再設計フロー

WTIでは以下のような設計フローでお客様と情報を共有して開発を実施しています。

再設計フロー

 

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VBAで測定器を自在に制御!~EOLの評価業務も効率化しています~
そのお困りごとはFPGAで解決できるかもしれません
代替コンデンサが特性不良のもとになる!? ~高周波アンプ整合回路のEOL対応はコンデンサの周波数特性も考慮した設計が必要です~
オーディオ回路にセラミックコンデンサはNG
EOL対策における代替品調査 ~水晶発振器を例に~
ハードウェア、ソフトウェアの組み込み開発はお任せください

 

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EOL対応(生産中止・ディスコン)

Wave TechnologyWTI)は半導体・電子部品・LSIのEOL(生産中止・ディスコン)に伴う設計変更・検証業務全般をサポートいたします。

お客様の声

量産製品のEOLが膨大にあり対応が追い付かない。
だが、社内のリソースは新商品の開発に集中させたい。
EOL対応は丸ごとアウトソース(外部委託)したい。

       

Wave TechnologyWTI)は、このようなお客様の声にお応えしEOL対応全般を請け負うサービスを提供しております。

生産中止

EOL対応受託範囲

代替品検討から設計変更(改版設計)・評価検証までワンストップでサポートさせていただきます。

代替検討

設計変更

評価検証

書類作成

代替検討

・代品調査
・特性比較

設計変更

・回路
・基板
・ソフトウェア

評価検証

・電気特性
・EMI検証
・各種信頼性試験

書類作成

・検証報告書
・資料作成代行※

 

部材調達
~実装・試作

※お客様の社内で必要となる設計変更申請書類などの作成を代行します。

EOL対応ワンストップサービス

           

 

EOL(生産中止・ディスコン)対応事例

事例1.
マイコンEOLに対応したリニューアル設計

事例1.
マイコンEOLに対応したリニューアル設計

産業機器向け制御基板のマイコンEOL対応でワンチップマイコンを採用したリニューアル設計によって、部品点数とコスト削減を実現した事例をご紹介。

事例2.
電源回路部品のEOL対応に伴う実装基板の小型化

事例2.
電源回路部品のEOL対応に伴う実装基板の小型化

プラズマ発生器で使用している高耐圧コンデンサの代替に伴い、基板レイアウトの見直しと部品の再選定によって実装基板の小型化、コスト抑制を実現しました。

事例3.
デジタル制御電源アイソレーション回路変更

事例3.
デジタル制御電源アイソレーション回路変更

デジタル制御電源で使用しているフォトカプラの生産中止に伴い、これをパルストランスに置き換えるなど再設計を実施し、小型・高速化かつ部品の入手性向上を実現しました。

事例4.
ジョイスティックのEOL対応

事例4.
ジョイスティックのEOL対応

機械式8接点ジョイスティックの置き換えでは、構造的制約から2軸のアナログ式(可変抵抗式)ジョイスティックを採用し小型マイコンと組み合わせることにより機能を実現した事例をご紹介。

事例5.
業務用無線機の高周波(RF)部生産中止(EOL)コンデンサの変更

事例5.
業務用無線機の高周波(RF)部生産中止(EOL)コンデンサの変更

400MHz帯の業務無線機で使用しているコンデンサの代替検討では、基板は改版せず、インピーダンス整合によって定数変更だけで代替品への置き換えを実現しました。

EOLお悩み解決ストーリー
ハードな課題をソフトな発想で解決

EOLお悩み解決ストーリー
ハードな課題をソフトな発想で解決

タイの洪水被害などによる影響でEOL対応が大きな社会問題となっていた2013年頃、大きな課題に直面しながらも試行錯誤の上、EOL問題を解決に導いたエンジニア達のストーリーをご紹介します。

 

WTIのEOL対応が支持される理由

●技術範囲が広い

アナログ・デジタルから高周波回路および基板・機構・熱設計と対応可能な技術範囲が広く、お客様からの多様なニーズにお応えすることが可能です。

当社対応領域の例

アプリケーション 対象技術 対象部品
無線通信機器 高周波回路設計 高出力FET, 低雑音増幅FET,
ショットキーバリアダイオード, PLL,
Duplexerなど
デジタル制御 ADC, DAC, CODEC,
SDRAM, SRAM, FLASH ROM,
FPGA※1,LCD, LCDコントローラ
マイコン制御 MPUCPU※2
車載機器 センサ応用技術 GPSモジュール
ネットワーク機器 高速データ通信技術
パターン伝送線路解析
FPGA, 光通信モジュール
電源機器 ACDCコンバータ
DCDCコンバータ
スイッチング用FET,
整流ダイオード, フォトカプラ,
PWMコントローラIC

※1  AMD製Spartan、Artix、Kintex、Virtex、CoolRunner-II CPLD、 Intel製Cyclone、 Arria、Stratix、 MAX10、 Lattice製ispMACH4000など
※2  NXP製i.MXアプリケーション・プロセッサ(ARM)、Microchip製PIC、ルネサス製RL78、78K、R8C、V850、SuperHなど

上記以外のアプリケーションや部品についてもご要望に応じ対応いたします。

 

●ワンストップで対応

パターン設計から部品調達、試作についても対応します。
基板改版を伴うEOL(生産中止・ディスコン)対応にもスピーディーに対応します。

 

●設計提案力

Wave Technology(WTI)は「電子デバイス周辺および情報通信機器の設計・開発・受託」を主体とする会社です。
当社は、「設計的視点」から代替品、回路変更および適切な検証手法についてご提案させていただくことが可能です。

 

●証明取得サービス

無線機のEOL(生産中止・ディスコン)対応では、技術基準適合証明書の取得代行サービスも実施しております。

 

●EMI検証

自社で保有する簡易電波暗室を利用し部品置き換え後のEMI評価を実施することが可能です。このため、お客様での再検証の必要がなくなりEOL対応をスピードアップさせることができます。

 

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電子部品入手難サポートサービス(お問い合わせ急増中)
~ 電子部品入手難に伴う置き換え検討における複数のプランをご用意いたしました ~
電子部品の置き換え調査~リニューアル設計まで、試作、評価を含めてワンストップで対応いたします。

 

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パワーサイクル試験

パワーモジュールでは、kWレベルの大電力を扱うため、通電のON/OFFを繰り返すことで熱応力が発生し、製品内部及び製品を放熱系統に取りつける部分に大きなストレスが発生します。
ストレスが繰り返し発生すると、

  • 製品の性能低下や破壊
  • 製品を取りつけるグリース劣化による放熱性低下に伴う製品破壊

といった症状が見られるようになります。

パワーサイクル試験は、このような課題に対する実⼒及び寿命を予測するために⾏われる試験項目のひとつです。
目的に応じ、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2 種類の試験があります。

対応する試験は規格として制定されており、JEITA-ED-4701/601 602 603。車載用電子部品ではAEC-Q101で規格化されています。
また、規格に準拠した試験以外にも、グリース評価をするための試験や、SiC等の開発で双方向通電をおこなう等、目的によって様々な条件で試験が実施されています。
WTIでは、品種や条件で多くの組み合わせがある中、得意のカスタム計測・制御技術を活かし、制御環境の構築及び改良をおこなっております。実際の試験は、専用の試験ルームと人員を確保されているパートナー会社で試験受託しており、協業する形でビジネスを展開しております。

特にAEC-Q101では、ロット77台×3ロットの試験を行う必用があり、対応が可能な受託会社は非常に限られます。

パワーデバイスの開発サポートという着眼で見ると、WTIではパワーモジュールの静特性評価・スイッチング評価はもちろんのこと、10年以上の経験を活かし、熱・応力解析による構造開発サポートもおこなうことが可能です。
また、モジュール単体だけではなく、DC-DCコンバータ等の電源システム開発までWTI内でサポートできる体制が整っております(~数kWクラスまで)。

WTIはデバイスからシステムまで、お客様の課題に対し、広範囲にサポートすることができる稀な会社です。

自動車では世界的なEV推進の加速により、電動化の波が押し寄せてきております。これからの時代、各社が得意な技術を持ち合い、協業により技術開発を加速していくことが益々重要になってくると考えています。
WTIの活用をお待ちしております。

パワーデバイス・パワーモジュール評価事例

1.静特性評価

カーブトレーサを用い、静特性データを取得。
2000V、400Aクラスまでの製品に対応可能。

従来、2台のカーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を一括で自動計測。
従来、2台のカーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を一括で自動計測。

2.動特性評価

600V、300Aクラスの評価実績あり。

評価環境抜粋
評価環境抜粋

等価回路例
等価回路例

代表波形
代表波形

※ゲートドライバはお客様支給を前提としております。
個別準備も可能ですが、その場合、個別に相談となります。

3.構造解析、信頼性試験

  • クロスセクション
    表面、断面解析等、目的に応じて実施内容をご提案いたします。
  • 信頼性試験
    弊社及びパートナー会社にて、各種信頼性試験を行うことができます。
    パワーサイクル試験については、内容をお聞きしパートナー会社の紹介含め、個別にご提案いたします。

4.パワーサイクル試験(パートナー会社様提供)

①パワーサイクル試験の動作原理

  • ゲート電圧(VG)印加するとドレイン電流(ID)が流れます。
  • IDが流れるとパワ-チップの温度(Tj)が急上昇します。
  • パワーチップの熱はケース側(Tc)に向かって流れることになります。
  • この原理を利用して、パワーサイクル試験を実施します。

パワーサイクル試験の動作原理パワーサイクル試験の動作原理
パワーサイクル試験の動作原理

これらID/Tj/Tc値を用いて、試験の条件出しを行います。

②ショートパワーサイクル(参考:JEITA-ED-4701/601 602)

主にスイッチングデバイス等の、パッケージ温度(Tc)が比較的安定した状態で、ON/OFF動作の繰り返しを再現した試験です。
チップから上の部分における、材料間の線膨張係数の違いによる劣化評価です。

ショートパワーサイクル

③ロングーパワーサイクル(参考:JEITA-ED-4701/603)

主にパワーデバイスのON/OFF動作を繰り返し再現した試験です。
チップから下の部分における、材料間の線膨張係数の違いによる劣化評価です。

ロングーパワーサイクル

試験サンプル MOSFETモジュール事例
試験条件 ID=250A(ON/OFF制御)
ON/OFF=2/2minVGS=15V(常時印加)ΔTj=100℃(50~150℃) 10kcyc
冷却方式 空冷ファン方針
常時モニタ 各VDS(ON)、各Tc
アラーム機能

VDS、IDS上限 DC電源OFF

Tc上限 電源ブレーカー遮断

④故障モードについて

故障モードは、ショートやオープン不良が主となります。

  • チップ過電流破壊
  • 温度変化による繰返し疲労でのクラック、剥離(断続動作モード)
  • 温度変化による繰返し疲労でのクラック、剥離(パワーサイクルモード)

故障モードについて

⑤試験環境抜粋(パートナー会社)


5.パワーモジュール通電制御環境構築例

パワーモジュール通電制御環境構築例

<前提条件>

①Tjが最大定格を超えない範囲で、モジュールのケース温度を極力短時間で上下させることを目的に、可変電力制御を適用。
②6素子が全て直列接続されている。
③1素子あたり1kW程度の電力範囲で6素子同時に可変電力制御をおこなう。
④各端子と温度の波形を全て記録する。

<適用技術>

デジタルフィードバックで高速で制御させるため、次の構成を選択。

①制御の中心にRTOS(リアルタイムOS)とFPGAを組み合わせた制御ボードを選択。プロトタイピング設計を前提に、NI(ナショナルインスツルメンツ)社のボードを使い、LabVIEWで設計。
②入出力絶縁とモジュール制御のため、カスタム基板設計。

基板①とコントローラ基板
基板①とコントローラ基板

基板②
基板②

 

お客様からのご要望が急増している評価サービス

パワーモジュール評価 パワーサイクル試験 車載用半導体の信頼性試験
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。 AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
     
微笑電流評価サービス

超低抵抗評価サービス
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。 測定環境構築も含めて、超低抵抗(微小抵抗)測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下(μΩやnΩ)クラスの評価に対応。 任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

 
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データ解析ツール

各種計測器で集録したデータ(CSVファイル等)から必要な情報を抽出し、 表の出力やグラフの自動作成等により、面倒なレポート作成を強力にサポートします。
データ解析ツール
データ解析ツール

データ処理ツール

  • データの可視化
  • 処理内容の設定や抽出
データ書き出し
データ書き出し
Excel (※Wordも対応可 ●表やグラフの自動作成
 
  • 波形解析、mapデータ処理など、編集ツールを経由して出力することで、柔軟性のあるデータ処理が可能となります
  • 編集ツール上でデータ分析して所定のフォームで出力させるため、機能追加等にも対応しやすくなります。
 

ツール作成実績

測定データのOK/NG判定ツール 各種測定データに対する規格値ベースのOK/NG判定 既に判定済みのデータに対し、判定基準を変更しての再判定 判定結果の集計等
変動追跡ツール 複数の試験データファイルから同一ロット、同一サンプルNoのデータを抽出 試験項目別でデータを集計。測定日時順にグラフ化
波形解析ツール オシロスコープ等の波形測定データからパラメータ抽出 スイープ測定結果からのデータ抽出
マップ作成ツール ウェハマップ等、図の上に数値の書込みや色による表現で可視化 画像での出力等
ヒストグラム作成ツール 試験項目別のヒストグラムを自動作成
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カーブトレーサ自動測定システム

カーブトレーサ自動測定システム

従来、2台のカーブトレーサを使い分けて測定する必要のあった製品を一括で自動測定

カーブトレーサ自動測定システム

 

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高耐圧リレーと大電流リレーで数nAのリーク電流測定から300Aクラスの大電流測定まで対応

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導体抵抗測定システム

導体抵抗自動モニタリングシステム(1)

【導通信頼性評価を目的とした多CHの抵抗計測システム】

導通信頼性評価を目的とした多CHの抵抗計測システムです。
DMMによる抵抗測定と、LCRメータを使用したAC測定(オプション)に対応し、スイッチシステムと組み合わせることで288CHの多CH化を実現しています。熱電対情報からサイクルカウントする機能を有しており試験槽の種類に依存せず利用することができます。その特徴から、温度サイクルは気槽/液槽の両用途で、ご利用いただいております。

ハード仕様

<ハード仕様>
内容 特徴
CH 288 CH
セミカスタム耐熱
ケーブル
8 ( 2 CH)の耐熱ケーブルで
試験槽のケーブル孔に通しやすい
UPS 有り
PC OSWindows10
温度測定 標準4CHの熱電対入力
 (熱電対CH数分の試験槽に対応)
AC測定
(オプション)
LCRメータ
(DC抵抗,容量,インピーダンス)
DC測定 7.5桁マルチメータ(DC抵抗)
スイッチシステム 汎用スイッチシステム
測定方式 4線式

<ソフト仕様>
主にデータ集録用のソフトとビューアで構成。補助ツールとしてデータ連結ツールとExcelグラフ作成ツールが付属。データ集録用のソフト以外はスタンドアローンアプリとして任意のPCにインストールして使用可能。

<データ集録ソフト>
l複数の試験を並行して実施可能
l試験ごとに任意のタイミングで開始/一時停止/終了可能
l試験を開始する際に、任意の未使用CHを割り当て可能
lAC測定とDC測定を混在して試験可能
l温度サイクル試験のサイクル数を、温度変化を基にカウント(試験槽の機種に依存しない)
l温度サイクルモードと経過時間モードの切替が可能(高温保存試験などにも対応可能)

メイン画面
図1 メイン画面
設定画面
図2 設定画面

<ビューア>
l測定ポイント数が数万ポイントを超えるような場合でも、高速に動作
l測定データをCSVファイルにエクスポート可能
lX軸を経過時間、絶対時間、サイクル数の切替表示が可能
l対数表示が可能
l 操作性に配慮したUI設計でデータ分析をアシスト(拡大/縮小/スクロール/系列の表示・非表示など)

ビューア
図3 ビューア画面

Excelグラフ作成ツール>
lCSVファイルを元にExcelグラフ(散布図)の作成をアシストする自動化ツール
lCSVファイルは本システム以外で作成したファイルも使用可能
l複数個のグラフを一括出力することが可能
l グラフのサイズ、系列の色、線種などの書式を簡単に設定が可能

Excelグラフ作成ツール
図4 グラフ作成ツール

<データ連結ツール>
lデータ集録ソフトで測定した2つのファイルを連結可能
 (過去のデータと継続試験のデータの連結が可能)
lCH構成が異なる場合でも、対応するCHを選択することで連結可能

導体抵抗自動モニタリングシステム(2

導体抵抗自動モニタリングシステム(1) 導体抵抗自動モニタリングシステム(1)
導体抵抗自動モニタリングシステム(1) 導体抵抗自動モニタリングシステム(1)
導体抵抗自動モニタリングシステム(1) BGA基板

応力シミュレーション

応力シミュレーション

 
BGA基板
BGA基板
ヒートサイクル試験後の縦断面図
⇒半田接合部に発生したクラック

図5 導体抵抗自動モニタリングシステム 2 例目

 

■温度サイクル試験槽と連動し、導通抵抗を多チャンネルでリアルタイムにモニタリング。

※本事例はナショナルインスツルメンツ(NI)社のユーザー事例に掲載されております。
http://sine.ni.com/cs/app/doc /p/id/cs-13025をご参照ください。

 

導体抵抗自動モニタリングシステム(3

導体抵抗自動モニタリングシステム(2)

 

導体抵抗自動モニタリングシステム(2)

図6 導体抵抗自動モニタリングシステム 3 例目

 

[特徴]

  • 2台の試験槽に対し、それぞれ独立した関係で試験を実施したいニーズに最適。⇒PC1台に対し、96チャンネル単位でハードユニットを準備
    各ハードユニットは、それぞれ事前に指定した試験槽とのみ認識できる構成とし、
    ユニット毎に集録アプリを準備

 

導体抵抗自動モニタリングシステム(4)

ハンダ接合部の導通抵抗を環境試験中にリアルタイムにモニタリングするためのシステム

ハンダ接合部の導通抵抗を環境試験中にリアルタイムにモニタリングするためのシステム

 

l標準96ch構成

l4線式測定

l専用ハードとソフトで構成

l試験槽のメーカーや通信機能に依存せず適用可能

ハンダ接合部の導通抵抗を環境試験中にリアルタイムにモニタリングするためのシステム

図7 導体抵抗自動モニタリングシステム 4 例目

 

WTIシステムの特徴

WTIオリジナル その1】

  冷熱衝撃試験(温度サイクル)のサイクル数を熱電対温度から換算している

  →独自のアルゴリズムを適用

従来は温度サイクル槽と通信してサイクル数取得

従来

WTIシステム

通信機能のない試験槽では対応できない

通信機能の有無を気にせず採用できる

通信機能はメーカーにより異なるため、

メーカー依存がある。

試験槽メーカーを気にせず採用できる

液槽冷熱衝撃試験等のニーズには対応できない

熱電対さえ挿入できれば、液槽の試験槽でも対応

できる

複数の試験槽を同時に扱えない

複数の試験槽を同時に扱うことができる

WTIオリジナル その2】

  集録ソフトの中にある解析機能のみを抽出したViewerソフトがある

従来は装置付随のソフトでしかデータ分析できなかった

従来

WTIシステム

毎回現場までいかないとデータが確認できず面倒

個人PCで独立してデータ分析が行えるようになる

WTIオリジナル その3】

  利便性を考慮したケーブルのカスタマイズ

試験槽のケーブル孔が狭い場合、チャンネル数に制限がかかっていた

従来

WTIシステム

システムのチャンネル数を有効に使えない

少ないチャンネル単位でケーブルを構成しており、市場にある大半の試験槽であれば心配なく適用できる

WTIオリジナル その4】
  お客様のご要望を反映したユーザーインターフェイスと機能(代表例)

お客様のご要望を反映したユーザーインターフェイスと機能(代表例)
図8 導体抵抗自動モニタリングシステム ユーザーインターフェース例

l複数の試験設定をすることが出来ます。

l試験設定ごとに開始、終了、中断に対応しており、柔軟な試験運用が可能です。

試験設定のインポートに対応
図9 試験設定画面(試験設定のインポート)

l試験設定のインポートに対応

操作性に配慮したビューアを搭載
図10 試験結果ビューア画面

l操作性に配慮したビューアを搭載

 

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【当ページ関連の資料タイトル】
●「カスタム計測・試験環境構築・受託評価のサービス紹介」
●「導体抵抗自動モニタリングシステム取り扱いマニュアル」

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~計装アンプって便利ですよ(微小信号検出)~
~計装アンプって便利ですよ(GND以外の基準で出力できる)~
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カスタム計測システム・受託評価

Wave Technology(WTI)では、お客様の研究開発環境で求められる機能を、オーダーメイドの「カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)」と受託評価サービス(評価業務の請負サービス)という形でご提供しております。

カスタム計測システム設計開発会社である当社は、半導体及びその応用製品に関する高い技術を保有しており、お客様のお困りごとに対し、設計者目線で解決策を提案していくことが特徴です。

ご要望に合わせ、下記二つのサービスをご用意しております。

  • カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)
  • 受託評価サービス(評価業務の請負サービス)

近年は、車載用の電子部品でAEC準拠の試験・評価需要も増えつつあり、お客様のご要望に添えるようサービス内容の拡充を進めているところです。

 

カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)

カスタム計測システム(計測システム開発受託サービス)

計測評価の自動化、各種モニタリングシステム、制御システム、データや波形解析の自動化解析ツール等、お客様のお困りごとに対し、長年培ったハード/ソフトの技術を活用して、課題解決していくことが特徴です。

  • 完成品としてのシステム提供
  • レンタル・リースによるシステム提供
  • お客様との契約に基づく受託開発

等、お客様のニーズに合わせ、課題解決のためのサービスを提供しております。

 

受託評価サービス(評価業務の請負サービス)

受託評価サービス(評価業務の請負サービス)半導体をはじめとする各種電子部品や製品の電気特性や温度特性等の特性評価を請け負うサービスです。

  • 評価環境の設計開発を伴う受託評価
    ・自動評価環境の構築
    ・評価用基板の回路/基板設計・製作
    ・計測評価用ソフトウェアの開発
      ※NI社のLabVIEWTMを活用
     (PCベースの開発からリアルタイム性を必要とする組み込みベースの開発まで)
  • 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験
    ・温度特性評価
    ・信頼性評価
  • パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価(AEC準拠の試験への対応)
  • リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案

※LabVIEWは、NI社の登録商標です。

お困りごとがございましたら、ぜひ一度、当社のサービスをご利用ください。

お客様からのご要望が急増している評価サービス

 

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