こんにちは。カスタム技術課の傳田です。
車載半導体の信頼性を担保するために『AEC』というメジャーな信頼性試験規格が存在します。その中でも代表的なのが、集積回路向けの「AEC-Q100」と、ディスクリート半導体向けの「AEC-Q101」です。試験を担当される方の中には「AEC-Q100とAEC-Q101の違いは?」「どの試験項目を実施したら良いの?」という疑問を持つ方も多いかと思います。両者は単に対象デバイスに違いがあるだけではなく、想定する故障モードや試験設計の考え方にも違いがあります。本記事では、それぞれの規格の位置付けと主要試験項目を整理しながら、車載信頼性試験における評価設計の着眼ポイントを見て行きます。
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