超低抵抗評価サービス

超低抵抗（微小抵抗）の評価でお困りではないでしょうか？
mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価は当社にご相談ください！
 
●超低抵抗（微小抵抗）評価サービスとは
●超低抵抗（微小抵抗）評価サービス活用例
●超低抵抗（微小抵抗）評価の課題
●こんなお客様にオススメです
●評価事例
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
 

超低抵抗（微小抵抗）評価サービスとは  

超低抵抗^※1は、主に電流検出用のシャント抵抗として用いられる抵抗です。近年では、電子デバイスの高性能化や電動化による大電流化、エネルギー効率の向上などの要求から抵抗値の小さなシャント抵抗を使用するニーズが高まっています。

当社では、超低抵抗の測定環境構築も含めて、温度特性などの評価を受託可能です。
材料メーカー様や、機器メーカー様などからも多くのご依頼実績がございます。

^※1超低抵抗とは : 弊社では、mΩ以下を超低抵抗と定義しています。 

 

超低抵抗（微小抵抗）評価サービス活用例

• 超低抵抗（公称値：数十µΩ、抵抗変動量：～数十nΩ）の測定
• 超低抵抗の温度特性・抵抗温度係数(TCR)の評価
• 配線引き出しパターンの違いによる特性評価
• 抵抗体材料の違いによる特性評価
• 精密抵抗の測定
• その他、超低抵抗に関してお気軽にお問い合わせください。
   
  ※評価事例も掲載しています。是非ご覧ください。

超低抵抗（微小抵抗）評価の課題  

超低抵抗の評価では、抵抗値が非常に小さいため、測定する電圧レベルがµV オーダになります。抵抗の変化率を測定するにはnV オーダの電圧変化を正確に測定する必要があり、熱起電力^※2などのノイズに簡単に埋もれてしまいます。

したがって、超低抵抗の評価には熱起電力によるエラーを排除した測定方法や、安定性の高い測定系が必要です。

^※2ゼーベック効果により、異なる種類の導体からなる閉回路の接点に温度差があると生じる起電力です。抵抗測定では、コネクタや電線、はんだなど様々な場所で熱起電力が発生し、大きな誤差要因となります。

こんなお客様にオススメです

• 超低抵抗の評価をしたいが、エラー要因を排除した評価方法や評価系の確立が分からない
• 評価系の立ち上げ（設備投資・人員確保・ノウハウ蓄積など）にコストがかかる
• 製品開発段階で複数個の抵抗から所望の特性の抵抗を選定したい

そんなときは…

超低抵抗（微小抵抗）評価サービスをご活用ください！
 
 

評価事例

[事例①]：抵抗体材料による温度特性の違い

公称抵抗値は等しく1 mΩで、抵抗体材料が異なる（アルクロム、マンガニン）抵抗の温度特性を弊社にて評価した結果が以下となります（下記表を参照）
温度範囲 -40 ℃ ～ 125 ℃

[測定結果]

◇着眼ポイント◇

材料によって温度特性カーブが大きく異なることが分かります。 温度特性カーブは、材料や抵抗器の構造、基板パターンなど様々な要因で変化します。 温度特性を実測することで、設計の最適化を図れます。

 

※ppm…百万分率。1 ppm = 1/1000000 = 0.0001 %
抵抗温度係数(TCR)は、温度変化1 ℃あたりの抵抗値変動が何ppmかという指標である。
したがって、X [ppm/℃]で表される。

 

[事例②]：抵抗温度係数(TCR)が20 ppm/℃ 未満の抵抗の温度特性

公称抵抗値 500 µΩ 抵抗温度係数(TCR) 20 ppm/℃未満 の抵抗の温度特性を評価しました。
温度範囲 -40 ℃ ～ 125 ℃

[測定結果]

◇着眼ポイント◇

図4では、わずか650 nΩの間の変動をしっかりと測定できています！ 同じ温度の測定値の差は最大でも40 nΩ程度と、高い再現性を得られました。 図5から、8 ppm/℃の抵抗温度係数（TCR）を測定できていることが分かります。

再現性確認のため、20 ℃ → -40 ℃ → 125 ℃ → -40 ℃ → 20 ℃　と温度を変化させて測定しています。

 

お客様からのご要望が急増している評価サービス

受託評価サービス

●受託評価サービスについて
●受託評価サービスのメリット
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
●サービス事例

 

	ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。
	パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。
	AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託試験サービス。 半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
	半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。
	測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。

任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

受託評価サービスについて

【受託評価サービスとは】

半導体をはじめとする各種電子部品や電気製品の電気特性や温度特性、その他動作特性といった、製品の特性評価業務の請負サービスです。
お客様から受託した評価を完了後、当社にて評価レポートを作成します。

• 評価環境の設計開発を伴う受託評価
  ◆　自動評価環境の構築
  ◆　評価用基板の回路/基板設計・製作
  ◆　計測評価用ソフトウェアの開発　※NI社のLabVIEW^TMを活用
  （PCベースの開発からリアルタイム性を必要とする組み込みベースの開発まで）
  ◆　測定対象製品へのプロービングや、配線引き出しに便利な治具の設計・製作
• 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験
  　温度特性評価、信頼性評価など
• パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価（AEC準拠の試験への対応）
• リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案
   
  ※LabVIEWは、NI社の登録商標です。

 

当社のカスタム計測システムに関するお問い合わせの中で、「受託評価サービス」に関するお問い合わせが増えてきております。お客様が保有する開発リソースは、開発のコア領域にできる限り集中させ、周辺業務はアウトソースしたいといった理由でご依頼いただくケースが多いようです。 「受託評価サービス」は、カスタム計測システムの設計・開発を補完する位置づけでサービスをご提供してまいりましたが、専用サービスとして独立させることで、このご要望にお応えすることにいたしました。   近年は、パワーデバイスを中心に、車載用の電子部品でAEC準拠の試験・評価需要も増えつつあり、サービスの拡充を進めております。   その他にも、超低抵抗評価（μΩやnΩ）や微小電流（nAやpA）、微小電圧（nV）、大電流（300 A）、高電圧（600 V/1200 V）等、ニッチ領域での要素技術に関するご要望が増えつつあります。

受託評価サービスのメリット

• 評価環境も当社にて準備できますので、評価サンプルをご準備いただくことで評価開始が可能です。
• 電気系の専門知識がなくても評価したい内容をお伝えいただければ評価方法や評価項目を立案いたします。
• 評価業務を当社に委託いただくことで、お客様は開発業務に注力いただくことができます。
• 開発設計を主力としている当社は、「設計者目線」で評価結果を分析いたします。
• 当社が保有する計測に特化したハードウェア/ソフトウェアのプラットフォームを活用し、最適な評価環境を構築します。
   
  その他、具体的なアイデアをお持ちでなくても、ご希望の内容をご相談いただければ、課題解決案をご提案します。

お客様からのご要望が急増している評価サービス

ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。	パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。	AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。	測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。	任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

 

サービス事例

• パワーデバイス/パワーモジュール評価（静特性、動特性、各種信頼性）
• 超低抵抗評価
• 車載用半導体向け信頼性試験サービス（AEC-Q101、AQG-324準拠）
• 電子部品の各種信頼性試験
• 舵角(角度)センサの性能評価
• LEDチップの表面温度測定
• エレベータの位置検出センサ評価
• スマートフォン音質の温度・気圧依存性評価
• 無線電力伝送(WPT)の距離・指向性評価
• 電子たばこの電気的(温度)特性評価
• 美容機器の電気的評価
• 静電容量と温度の同期測定
• 磁気センサアレイによる磁気評価
• 市販電気製品に搭載された積層セラミックコンデンサ(MLCC)のメーカー依存性評価
• バッテリー監視基板(BMU)の評価
• 電気製品や部品のSパラメータ測定
• アナログフロントエンド(アナデジ混在)ICの評価
• フォトカプラの電気特性評価
• その他、各種ICの選別試験や、ICの評価基板を用いた特性評価　など

 

 

 WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。

カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）

• カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）について
• 計測システムの開発要素
  　計測用回路の設計・製作
  　治具の設計・製作
  　ツール・ソフトウェア開発
• 事例
• 標準システム販売

カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）について

【カスタム計測システム（計測システム開発受託サービス）】とは

• お客様の研究開発環境で求められる機能をオーダーメイドの「カスタム計測システム」という形でご提供いたします。
• 電子部品や製品に関する計測・評価システムをカスタム製作・開発受託するサービスです。
   

こんな方にオススメです 測定する必要があるが測定方法に不安があるので測定環境を構築してほしい 少し変わった評価をしたいが具体化のアイデアがない 市販計測器だけでは対応出来ない測定をしたい (ハード・ソフトを専用設計) 自動計測を行いたいがプログラミングは苦手

 
計測評価の自動化、各種モニタリングシステム、制御システム、データや波形解析の自動化解析ツール等、お客様のお困りごとに対し、長年培ったハード／ソフトの技術を活用して、課題解決していくことを特徴としております。
お客様からのご要望が多かったシステムはオリジナル商品として販売しております。

• 完成品としてのシステム提供
• レンタル・リースによるシステム提供
• お客様との契約に基づく受託開発

等、お客様のニーズに合わせ、課題解決のためのサービスを提供しております。
 
当社ではNI社のハードウエア／ソフトウエア（LabVIEW^TM）を活用しながら、不足する領域はカスタム設計する形を得意としております。
超低抵抗評価（μΩやnΩ）や微小電流（nAやpA）、微小電圧（nV）、大電流（300 A）、高電圧（600 V/1200 V）等、ニッチ領域での要素技術に関するご要望も増えつつあります。
 
評価業務のアウトソーシングをお考えのお客様向けには、受託評価サービスをご提供しております。
 

計測システムの開発要素  

標準的な計測システムは図1で構成されます。

図1　標準的な計測システム構成

この計測システムの開発要素は以下のとおりです。これらの開発要素は個別サービスとしてもご提供いたしております。

• 使用する計測器や計測モジュールの選定
• 計測用回路の設計・製作
• 測定対象とシステムを接続する治具の設計・製作
• システムを制御するためのツール・ソフトウェア開発
   
   

◆計測用回路の設計・製作

計測器と計測対象間のインターフェース回路や、微小電流アンプ等の計測モジュールを設計・製作します。
多チャンネル測定向けのリレー基板や絶縁基板などのインターフェース回路、市販の計測器では対応が難しい高感度測定用モジュール（微小電流、微小電圧、低抵抗など）といったカスタム回路を設計いたします。

図2　測定用基板製作例

◆治具の設計・製作

測定対象製品へのプロービングや、配線引き出しに便利な治具を設計・製作します。カスタム製作のため、ユニーク形状にも対応可能です。また、電気特性も考慮した設計をいたします。

図3　治具製作例

 ◆ツール・ソフトウェア開発

計測器の通信制御や、測定データ解析などを行うPCアプリケーションを開発します。

当社では主に、プログラミング言語“LabVIEW^TM”を使用したアプリケーションを開発しています。
LabVIEW^TMアプリケーションは、豊富なライブラリを利用したリッチなGUI（グラフィカル・ユーザー・インターフェース）の作成が可能で、データの可視化や直感的な操作性を実現できます。

図4　ツール作成例

計測に関する多様なご要望にお応えいたします LabVIEWTMを使用したPCベースの計測システムのため、PC向けの周辺機器の活用や、リッチなGUIを実現することができます。 Real-TimeコントローラやFPGAを組み合わせることで、ナノ秒（ns）レベルのタイミング制御を高い精度で実現することができます。 モジュール式計測システムを採用することで、システムの機能拡張が容易となります。 モジュール製品では対応の難しい領域（高電圧/大電流/高感度測定など）は、ベンチトップタイプの計測器との組み合わせや、カスタムボードの製作なども組み合わせて対応することも可能です。

 

事例  

導通抵抗モニタリングシステム 詳細は↑をクリック	はんだ接合部などの電気的な接続に関する信頼性評価を目的とした多CHの抵抗測定システムです。温度と抵抗値を定期的に測定し、試験中の抵抗値変動をモニタします。温度測定結果からサイクル数をカウントする方式のため、試験槽のメーカーに依らず使用可能です。4 線式抵抗測定で 最小48CH～最大288CHまで構成可能です。 ※ 標準システムとして販売しております。特設ページはこちら
カーブトレーサ自動測定システム 詳細は↑をクリック	カーブトレーサ（370型及び370A型）を連結及び信号分配する中継BOXを製作します。カーブトレーサと中継BOXを制御して、自動測定する環境を構築します。環境構築後に当社で受託評価も対応可能です。
データ自動解析ツール／レポート作成 詳細は↑をクリック	取得した生データに対し、必要データの抽出、や解析を行い、エクセル等のファイルに出力するツールです。人手で行われる作業を自動化することで、作業者の測定誤差ばらつきを軽減し誤ったデータを取り扱うことがなくなります。
高速多チャンネル温度集録システム	装置内の温度分布の測定を目的とした多CHの温度集録システムです。 最大95 S/s , 8CH以上 (CH数はご要望に応じて拡張可能です。) セミカスタムの熱電対との組み合わせで高速な温度変化の測定を実現。 半導体開発、液晶ディスプレイのLEDバックライト評価等で採用いただいております。※ 熱解析や受託評価も対応可能です。
トランス唸り音評価システム	トランスやリアクトルなどの唸り音を音響測定用のマイクで測定し、定量的にFAIL/PASS判定するシステムです。
瞬断検知システム (衝撃試験機連動)	落下試験機、温度サイクル試験槽等と連動し、ハンダ接合部の瞬断を多チャンネルで同時測定できます。最小1 μsの瞬断を検知することが可能です。
多ピンI-Vカーブ測定システム	ICの故障解析のために、多ピンICのI-Vカーブを自動測定するシステムです。
自動配線チェッカー	多ピンのケーブルが正しく結線できているか自動でチェックするシステムです。配線チェックなどで利用できます。
センサアレイ	SPI I/Fを持つセンサを、基板上に格子状に配置し、信号強度の分布測定を行うシステムです。
ゲートドライブ用 多CH 信号発生器	パワーデバイスの信頼性試験を目的とした多CHの信号発生器です。 FPGAにより、44CH(ハイサイド/ローサイドで22組分)の信号発生が可能です。
原理試作 (プロトタイプ試作)	モジュール式計測器やRT(Real-Time)コントローラなどを組み合わせてアイデアを実現可能かの検証を目的とした原理試作を行います。高精度なタイミングでの測定と信号処理により、性能がどの程度向上するかなどの検証が可能です。
電池監視基板検査装置	バッテリー（電池）の状態を監視するための検査基板の性能を検査するための検査装置です。治具内に必要な機器を内蔵し、PCベースで検査することが可能です。
バイアス試験装置	半導体デバイスのバイアス用試験治具からバイアス装置まで対応可能なシステムです。
圧力センサ評価システム	半導体圧力センサの特性を自動で検査するためのシステムです。各種計測器を組み合わせてご提案いたします。
測定器中継ボックス	計測器同士を接続するための中継BOXをシステム設計し評価の効率化をご提案いたします。
各種計測器制御(シリアル/GPIB/Ethernet/USB)	各種通信プロトコルを使い、自動計測環境を構築いたします。
磁気シールド効果測定治具	静磁場に対するシールド評価を目的とした治工具及び試験環境を構築します。当社シミュレーションサービスと組み合わせた整合評価も対応可能です。
各種試験槽連動システム	温度サイクル槽、高温槽、高温高湿槽等の運転状態を自動でモニタリングまたは制御することが可能なシステムです。他の計測器と連動して、セミカスタムな検査・モニタリングシステム環境が構築可能です。
半導体用カスタム ソケット/プローブ治具	カスタム仕様の検査用ソケット製作を行います。
エレベータ用センサ 評価治具	エレベータの位置検出に使われるセンサを評価するための治工具設計をいたします。
LED温度評価用治具	チップLEDの表面温度を測定するための、極細熱電対とマニピュレータを搭載した治具を製作いたします。

※LabVIEWは、NI社の登録商標です。
 

標準システム販売

お客様から特にご要望の多かったシステムに関しては標準システムとしてご準備いたしました。
今後、順次拡充していきます。

導通抵抗や容量の変化を多チャンネルでリアルタイムにモニタリングできるシステムです。 主に、部品・材料接部の接続信頼性を評価するような用途で効果を発揮します。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。