Wave Technology(WTI) | 半導体周辺回路とその応用製品の開発・設計会社

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

株式会社Wave Technology（略称：WTI） 

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大電流パルス通電評価サービス| 任意の大電流を単パルスや連続波形として生成|破壊耐量などを評価

大電流のパルス通電評価でお困りではないでしょうか？
半導体（パワー半導体やダイオード等）、電流センサ、電子部品、材料等の
大電流パルス通電評価は弊社にご相談ください！

大電流パルス通電評価サービスとは

車載関連などを含むパワーエレクトロニクス分野において、半導体などの電子部品の信頼性は重要なポイントとなります。信頼性を評価する上で一つの指標となるのが、瞬間的な大電流に対する耐性です。任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、試料の耐量や性能を評価するニーズが高まっています。

大電流パルス通電評価サービスでは、矩形波や正弦半波といった任意形状の大電流パルスを試料に印加し、試料の破壊耐量などを評価します。

  • 電流条件：～1500 A
  • 電圧条件：～150 V
  • 制御パルス幅：1 ms以下まで可能
  • 高温環境でも実施可能

上記以外の条件についても対応しますので、気軽にご相談ください。

図１　大電流パルス通電　波形例

 

ダイオードのせん頭サージ電流IFSM評価の活用例

せん頭サージ電流IFSMとはダイオードの最大定格の一つで、電源投入時の突入電流（サージ電流）に対する指標となります。一般的には、50Hzまたは60Hzの商用周波数の正弦半波パルスの電流で定義されます。

ダイオードに対して実際にIFSM評価を実施した波形例を図 2に示します。印加する電流パルスIFの波形に加えて、ダイオードの順方向電圧VFも同時に測定し、破壊時の挙動を観察することも可能です。

ダイオードのIFSM評価の波形例

図２　ダイオードのIFSM評価の波形例

大電流パルス通電評価サービスのその他活用例

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IFSM（ダイオードのせん頭サージ電流）試験及び大電流パルス通電試験のご紹介

こんにちは。第二技術部　カスタム技術課の井上です。 

今回はパワーデバイスの評価試験の一つである、ダイオードのIFSM試験及び大電流パルス通電試験についてお話しようと思います。車載分野などを含むパワーエレクトロニクス分野においては、使用する半導体の耐久度・信頼性は部品選定における重要なポイントであり、それらを評価する受託試験のニーズも高まってきています。 

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WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング

電源回路・充電回路・トランス設計開発職

◆ 採用情報

業務内容
電源回路、パワーデバイスの開発・設計業務をお任せします。 ＜業務例＞ ・電源回路、充電回路、トランスの設計、評価 ・AC/DC、DC/DC、DC/ACの回路設計、評価 ・各種トランスの設計、評価 ・電源機器、充電機器の開発、評価、解析 ・回路や電磁界のシミュレーションによる設計、解析
ポジションの魅力
大手メーカーの開発パートナーとして活躍 製品開発をトータルに担える社内体制（多分野の技術者と協業） キャリア選択自由：マネジメント or 技術スペシャリスト 年齢・社歴に関係なくスキルで評価される給与体系 技術教育センターによる継続的なスキルアップ支援
必須スキル・経験
・スイッチング電源の回路設計経験
歓迎スキル・経験
・電源回路または電源制御回路のハード
・ソフト設計 充電器、二次電池システムの設計経験
・アナログ回路、インバーター回路設計経験
・マイコンやDSPを使用したデジタル制御電源の設計経験

◆ 募集要項

雇用形態
正社員
試用期間
入社日より3ヶ月（期間中の条件の変更なし）
年収/昇給・賞与
（20代）478万円
（30代）589万円
（40代）907万円
昇給：年1回（４月）
賞与：年2回（2024年度実績：4.4～5.0ヶ月分）
就業時間
フレックスタイム制（標準労働時間：1日8時間、コアタイムあり） 続きを読む →

新入社員向け高周波回路講座の内容の一部紹介

　河野

　みなさん こんにちは。技術教育センターの河野です。

　今回のブログは新入社員向けに実施している講座の中で高周波回路講座の中身を少しだけ紹介したいと思います。

　当社では、4月に入社した新入社員は1年間、Off-JT(Off the Job Training)として技術教育センターが主催する講座を受講していただきます。その講座の中に電磁気高周波回路講座というものがあります。前半は電磁気学、後半が高周波回路に関する内容となっており、小生はその後半部分の講師を担当しています。以前、ずいぶん前ですがスミスチャートに関連したブログを連続もので紹介させていただいていました。

（ブログ・スミスチャートとは？ ～きちんと知ると便利です～）

　高周波とはなんだ？と思われる方も大勢いらっしゃると思います。当社に入社される社員においても例外ではなく、高周波とは何？と頭の中で“？”がグルグル回っている新入社員もいることでしょう。そういった疑問を少しずつ紐解きながら基本的な内容から学習します。

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WTIブログ

AQG-324規格のDRB試験（Dynamic Reverse Bias）とは？

パワーデバイス設計課の中松ですみなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。

今回はAQG-324規格のAnnex SiCで規格化されているQL-10 DRB試験（Dynamic Reverse Bias）についてお話ししようと思います。
※AQG-324規格とは、欧州の組織ECPEのワーキンググループによって車載向けパワーモジュール評価に関して策定された規格です。

SiCデバイスはSiデバイスと比較して高速でスイッチングが可能なため、より動的なストレスが印加されることになります。そのため、SiCデバイスを高速にオンオフさせ、高dV/dtを印加してパッケージ等を含むデバイス終端構造周辺のdV/dtロバスト性やラッチアップ耐性等を調べる信頼性試験が行われます。それを規格化した試験がDRB試験になります。

DRB試験の試験条件を表1に示します。

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WTIブログ, 電源・パワエレ

AQG 324が4年ぶりの更新！DGS試験はどうなった

カスタム技術課の井手です
こんにちは。
カスタム技術課の井手です。

2025年4月に車載向けパワーデバイス規格AQG-324の最新版が公開されました。今回は特にDGS試験を例に、最新版での変更点に関してお話しいたします。DGS試験は、パワー半導体のSiC MOSFETを対象とした信頼性試験です。SiC MOSFETは、その電力変換効率の高さからエネルギー損失の低減が期待され、近年急速に市場を拡大しています。そのようなホットな製品の規格が4年ぶりに更新されたということで、パワーデバイスの知見を広めるべく、どのように変わったかを調査してみました。

なお、AQG-324は、欧州の組織により策定された車載向けパワーデバイスの規格です。WTIでは車載向け信頼性試験規格に準拠した試験について実施できる環境の構築を進めており、その中でDGS試験の環境構築など、AQG-324規格への対応に向けても取り組んでおります。

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WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング, 評価・試験, 電源・パワエレ

新人研修が始まっています

みなさん　こんにちは。技術教育センターの河野です。

技術教育センターの河野です2025年度の4月に8名の新入社員が当社に入社され、1か月が経過しようとしています。当社では4月に集合研修を実施し、5月から配属されます。配属先でのOn the Job Training(OJT)に加え、技術教育センターが主催するOff the Job Training(Off-JT)を実施します。この4月の集合研修中にさまざまな研修メニュー(Off-JT)を実施しています。
その中で、スキルアップとして次の5つの講座研修があります。
①    技術文書作成
②    PCの使い方
③    アナログ・デジタル回路
④    回路シミュレーション
⑤    機械図面の見方・書き方
当社では技術サービス会社として、レポート作成は重要な成果物として考えております。そのためレポートの品質は極めて重要であり、その品質向上に取り組んでいます。各講座研修の詳細は次のとおりです。

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WTIブログ, 教育

WTI の新サービス登場！ ～受託評価サービスはじめました～

AEC-Q101、AQG-324規格に対応した受託評価サービスが新登場！！

WTI営業部　塩谷です。みなさんこんにちは。WTI営業部　塩谷です。

我々営業はお客様のお困りごとの解決に向けて、WTIのサービスを基に日々提案をさせていただいておりますが、その中でこんなお声をよく耳にいたします。

「WTIさんって評価だけでも依頼できるの？」

我々の周知不足を痛感すると共に新たなビジネスチャンスに胸躍らせる瞬間でもあります。

WTIは試作開発や要素検討段階において、お客様の開発をサポートする設計会社ではございますが、設計以外の業務委託も承っております。

その他にもシミュレーションによる解析やリバースエンジニアリングなど、設計業務に付随するサービスも展開しておりますので、今一度各種サービスをご高覧いただけますと幸いです。

その設計業務以外の新サービスとして力を注いでいるのが、今回紹介させていただく「WTIの受託評価サービス」になります。

 

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WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング, 評価・試験

AC-BTI (GSS/DGS) 試験とは?

カスタム技術課の 川原 ですこんにちは。カスタム技術課の川原です。
自動計測システムや受託評価サービス向けの環境構築、社内向けのツール開発など様々な領域の技術を担当しています。
近年、自動車の電動化をはじめ、産業機器、太陽光発電システム、電源機器など、様々な分野でSiCパワーデバイスの採用が急速に広がっています。SiCパワーデバイスは高速スイッチングや高温動作が可能で、低損失・高効率な電力変換を実現できるという大きな利点を持っています。一方で、従来のSiデバイスと比較して、ゲート酸化膜界面の品質に課題があり、熱的/電気的なストレスによって特性(主にゲートの閾値電圧VGSth)が変動することが知られています。弊社ではこのような課題に対する試験の一つとしてAC-BTI試験の受託サービス提供に向けた試験環境の構築をしております。
弊社環境では JEITA/JEDEC/ECPE の規格に準拠した試験の他に、高温環境での試験にも対応します。
 

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WTIブログ, カスタム計測・リバースエンジニアリング

DGS試験とは？　～次世代パワー半導体（SiC）のストレス試験～

パワーデバイス設計課の中松ですみなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。

今回はDGS試験についてお話しいたします。
DGSはDynamic Gate Stressの略で、AC-BTI(alternate current bias temperature instability)やGSI(gate switching instability)とも呼ばれます。SiC MOSFETではSiの場合と同様、正のゲートソース間電圧VGSを印加するPBTI(positive bias temperature instability)や、負のVGSを印加するNBTI(negative bias temperature instability)で閾値電圧のシフトが見られています。

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WTIブログ, 電源・パワエレ

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