こんにちは。カスタム技術課の傳田です。
車載半導体の信頼性を担保するために『AEC』というメジャーな信頼性試験規格が存在します。その中でも代表的なのが、集積回路向けの「AEC-Q100」と、ディスクリート半導体向けの「AEC-Q101」です。試験を担当される方の中には「AEC-Q100とAEC-Q101の違いは？」「どの試験項目を実施したら良いの？」という疑問を持つ方も多いかと思います。両者は単に対象デバイスに違いがあるだけではなく、想定する故障モードや試験設計の考え方にも違いがあります。本記事では、それぞれの規格の位置付けと主要試験項目を整理しながら、車載信頼性試験における評価設計の着眼ポイントを見て行きます。
大電流のパルス通電評価でお困りではないでしょうか？
半導体（パワー半導体やダイオード等）、電流センサ、電子部品、材料等の
大電流パルス通電評価は弊社にご相談ください！
車載関連などを含むパワーエレクトロニクス分野において、半導体などの電子部品の信頼性は重要なポイントとなります。信頼性を評価する上で一つの指標となるのが、瞬間的な大電流に対する耐性です。任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、試料の耐量や性能を評価するニーズが高まっています。
大電流パルス通電評価サービスでは、矩形波や正弦半波といった任意形状の大電流パルスを試料に印加し、試料の破壊耐量などを評価します。
上記以外の条件についても対応しますので、気軽にご相談ください。
図１ 大電流パルス通電 波形例
せん頭サージ電流IFSMとはダイオードの最大定格の一つで、電源投入時の突入電流（サージ電流）に対する指標となります。一般的には、50Hzまたは60Hzの商用周波数の正弦半波パルスの電流で定義されます。
ダイオードに対して実際にIFSM評価を実施した波形例を図 2に示します。印加する電流パルスIFの波形に加えて、ダイオードの順方向電圧VFも同時に測定し、破壊時の挙動を観察することも可能です。
図２ ダイオードのIFSM評価の波形例
ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。 パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。 AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。 測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。 任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。
WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。
有線/無線に関わらずデータ通信において高周波(RF)は必須の技術です。近年はIoT化で、多くの機器に通信機能が付加されるなど通信機能の多様化や集積化が進んでいます。また、データ通信量も高速化され、より高い周波数に移行や大電力化も進んでいます。通信機器設計課では、このような様々な高周波に関わるモジュール単体～機器全体に至る幅広い高周波機器の設計を行っています。
業務内容
●高周波機器の設計・評価
●通信モジュールの設計・評価
●各種高周波回路(電力増幅器、分配/合成器など)の設計・評価
●アンテナの設計・評価
●技適(技術適合証明)の代行サービス
電子機器には機能を支える基板や保護する筐体が欠かせません。当社では小型化やデザイン性に加え、放熱・防水・防塵・耐衝撃など多様な要求に対応した設計を行っています。3D-CADやCAE解析を用いた開発環境を整えており、未経験の方も基礎から丁寧に指導いたします。ものづくりにご興味がある方の応募をお待ちしております。
業務内容
●顧客との仕様の調整・報告
●3D-CADツールを用いた筐体設計・図面作成
●2D-CADツールを用いた基板設計
●CAE解析ツールを用いた設計の妥当性検証
●試作および評価
電源に関するお困りごとを解決しています。例えば、ある製品を動作させるために電源が必要だけど市販品では手に入らない、製品に合わせたカスタム電源が必要！とか、製品開発したけど電源がうまく動かない、原因究明と対策が急務だ！など、電源に関するお困りごとならなんでも相談に乗り解決までサポートします。どんなご依頼にも対応できるよう日々技術力を向上し、業務完遂したあとお客様からありがとうと喜ばれることを目指し精進しています。
業務内容
●電源のカスタム設計（要求仕様に合わせた電源構成検討、回路設計
●電源の特性評価、波形確認（部品の定格確認や異常波形の有無確認）
●電源の基板設計、熱設計（基板のパターン設計や放熱構造の設計）
●電源基板の不具合解析、ベンチマーク（故障解析や他社品の解析など）
●電源のEOL対応（部品の変更設計、比較評価など）
高周波デバイス設計課では、最先端の通信、衛星通信、レーダー用途などに向けた製品開発を通じて、より安全で快適な社会の実現に貢献しています。特に高周波増幅器の特性最適化においては、業界内でも高い技術力と実績を誇ります。私たちは、目に見えない電波を通じて、人と人、都市と自然、そして現在と未来をつなぐ“架け橋”となることを目指し、日々技術革新に取り組んでいます。
業務内容
●高周波半導体デバイスの開発・設計・評価
●高周波半導体デバイスのパッケージ設計、熱設計
●高周波半導体デバイスの各種信頼性試験（温度サイクル、通電試験など）
●高周波増幅器用FETのデバイスモデル作成
●顧客ニーズに応じたカスタマイズ設計と技術サポート
●通信用モジュールの設計・評価
●レーダー用モジュールの設計・評価
●EOL対応（部品の変更設計、検証評価など）
パワーデバイス設計課では、次世代のエネルギー効率を支えるパワー半導体デバイスの開発・設計を行っています。現代社会において電力の効率的な変換・制御は、自動車、産業機器といった幅広い分野で重要性が高まっており、そうしたニーズに応えるべくパワーデバイスの設計に日々取り組んでいます。設計には回路設計や測定技術、半導体物理の知見が求められるため、理系分野で学んだ知識を活かすことができます。また、社内外と連携しながら仕事を進めるため、コミュニケーション能力や課題解決力も重要なスキルとなります。
業務内容
●パワー半導体のゲートドライバ設計、評価基板設計（要求仕様に応じた回路設計）
●パワー半導体のパッケージ設計、熱設計
●新規パワーデバイス（IGBT、MOSFET、SiC、GaN、Ga2O3等）の静特性評価、スイッチング特性評価
●AEC-Q101やAQG324準拠の信頼性試験用装置設計開発
●パワー半導体の各種信頼性試験（温度サイクル、パワーサイクルなど）
●顧客ニーズに応じたカスタマイズ設計と技術サポート
研究開発や評価現場に合せた計測システムのカスタム開発、電子機器の性能や信頼性を検証する評価サービス、リバースエンジニアリングによる設計情報の再構築や改良支援を展開しています。ハードとソフトを融合した高い技術力で開発課題を解決し、新たな価値創出に貢献するフィールドがここにはあります。
業務内容
●計測システムのカスタム開発（回路・筐体などのハード設計、制御ソフト開発）
●研究・開発・生産など多様な現場に対する要望のヒアリングおよび付加価値提案
●半導体応用製品・電子機器を中心に、依頼された製品に対する性能検証・評価、信頼性試験、特性測定
●評価・試験請負に必要な評価システムの検討・開発および自社内での設置・立ち上げ
●リバースエンジニアリング対応（電子回路基板から配線データの抽出・回路図化 ）
光デバイス設計課では、情報通信技術に必要な光半導体デバイスを中心に設計開発業務及び量産サポートを担っています。最先端デバイスである光半導体製品の量産に至るまでには様々な課題や問題があり、性能評価技術、信頼性評価技術、解析技術、回路設計技術など多岐にわたる技術が求められます。未経験者でも教育サポート体制は充実していますので技術革新に挑戦しませんか。
業務内容
●光半導体製品の設計開発業務
●光半導体製品の組立・評価技術開発
●半導体製品及び関連部品に関わる各種信頼性試験
●顧客ニーズに応じた計測機器開発や治具設計
●半導体製品の故障解析及び故障原因メカニズムの究明
当社では民生、産業、自動車用半導体開発におけるパッケージ基板設計、電気解析、構造解析を請け負っております。また、半導体パッケージだけではなく実装信頼性評価用の基板設計やマザーボードにおけるDDRメモリ等高速信号のリファレンスデザイン設計も⾏っております。システムLSI、アナログ・パワーデバイス、ボード設計から電気・構造解析まで、より広い技術範囲でご活躍いただけます。
◇業務内容
●半導体パッケージのワイヤリング設計・インターポーザ基板設計
●実装信頼性評価用の基板設計
●マザーボードにおけるDDRメモリ等高速信号のリファレンスデザイン設計
●シミュレータによるSI解析、PI解析
●IBISモデル作成
●半導体パッケージの構造解析
質の高い技術サービスを提供し続けるために社員教育を最重要施策のひとつと位置づけ、2009年に技術教育センターを設立。技術講座や文書指導など、実務と連動した教育を通じて、社員一人ひとりの成長を支えています。
業務内容
●新入社員から一般社員まで社員一人ひとりの能力開発を支援すること。
●教育の4つの柱：① 徹底した基礎学習
② 個別技術講座で専門性を強化
③ 文書品質の徹底指導 技術文書の書き方講座を全社員に実施
④ 全社で取り組む育成PDCA●育成状況を関係者全員で共有し、進捗をサポート
●一人ひとりに向き合う育成体制で、着実な成長を実現
みなさん こんにちは。技術教育センターの河野です。
今回のブログは新入社員向けに実施している講座の中で高周波回路講座の中身を少しだけ紹介したいと思います。
当社では、4月に入社した新入社員は1年間、Off-JT(Off the Job Training)として技術教育センターが主催する講座を受講していただきます。その講座の中に電磁気高周波回路講座というものがあります。前半は電磁気学、後半が高周波回路に関する内容となっており、小生はその後半部分の講師を担当しています。以前、ずいぶん前ですがスミスチャートに関連したブログを連続もので紹介させていただいていました。
（ブログ・スミスチャートとは？ ～きちんと知ると便利です～）
高周波とはなんだ？と思われる方も大勢いらっしゃると思います。当社に入社される社員においても例外ではなく、高周波とは何？と頭の中で“？”がグルグル回っている新入社員もいることでしょう。そういった疑問を少しずつ紐解きながら基本的な内容から学習します。
みなさん、こんにちは。
パワーデバイス設計課の中松です。今回はAQG-324規格のAnnex SiCで規格化されているQL-10 DRB試験（Dynamic Reverse Bias）についてお話ししようと思います。
※AQG-324規格とは、欧州の組織ECPEのワーキンググループによって車載向けパワーモジュール評価に関して策定された規格です。SiCデバイスはSiデバイスと比較して高速でスイッチングが可能なため、より動的なストレスが印加されることになります。そのため、SiCデバイスを高速にオンオフさせ、高dV/dtを印加してパッケージ等を含むデバイス終端構造周辺のdV/dtロバスト性やラッチアップ耐性等を調べる信頼性試験が行われます。それを規格化した試験がDRB試験になります。
DRB試験の試験条件を表1に示します。
こんにちは。
カスタム技術課の井手です。2025年4月に車載向けパワーデバイス規格AQG-324の最新版が公開されました。今回は特にDGS試験を例に、最新版での変更点に関してお話しいたします。DGS試験は、パワー半導体のSiC MOSFETを対象とした信頼性試験です。SiC MOSFETは、その電力変換効率の高さからエネルギー損失の低減が期待され、近年急速に市場を拡大しています。そのようなホットな製品の規格が4年ぶりに更新されたということで、パワーデバイスの知見を広めるべく、どのように変わったかを調査してみました。
なお、AQG-324は、欧州の組織により策定された車載向けパワーデバイスの規格です。WTIでは車載向け信頼性試験規格に準拠した試験について実施できる環境の構築を進めており、その中でDGS試験の環境構築など、AQG-324規格への対応に向けても取り組んでおります。
みなさん こんにちは。技術教育センターの河野です。
2025年度の4月に8名の新入社員が当社に入社され、1か月が経過しようとしています。当社では4月に集合研修を実施し、5月から配属されます。配属先でのOn the Job Training(OJT)に加え、技術教育センターが主催するOff the Job Training(Off-JT)を実施します。この4月の集合研修中にさまざまな研修メニュー(Off-JT)を実施しています。
その中で、スキルアップとして次の5つの講座研修があります。
① 技術文書作成
② PCの使い方
③ アナログ・デジタル回路
④ 回路シミュレーション
⑤ 機械図面の見方・書き方
当社では技術サービス会社として、レポート作成は重要な成果物として考えております。そのためレポートの品質は極めて重要であり、その品質向上に取り組んでいます。各講座研修の詳細は次のとおりです。
教育センターとしてもそれをサポートしており、これまで
