Wave Technology(WTI)-ウェーブ・テクノロジ

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

イーサネット(Ethernet)について

みなさんこんにちは。システム設計課の米谷です。

イーサネットとは、主に建物内でパソコンや電子機器をケーブルで繋いで通信する有線LANの標準規格の一つで、最も普及している規格です。今回はこのイーサネットについてお話させていただきます。

(当社の電気設計受託サービスサブスクエンジニアリングサービスはこちら)

続きを読む

半導体デバイスは水に弱いの?

皆様、こんにちは。光デバイス設計課の長冨です。
前回のブログでは発光素子(LD)の故障事例紹介でしたが、今回は半導体デバイスの耐水性について紹介したいと思います。

 

みなさんは半導体を製造するのに大量の水が必要なのはご存じですか?
微細な加工をおこなっている半導体にゴミなどの異物が付着すると、正常に動作しなくなってしまいます。

続きを読む

通電試験でお困りじゃないですか?

みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。

さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか?
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。

続きを読む

品質保証って何をするの?~故障解析手法 FTA編

みなさん、こんにちは。光デバイス設計課の山野です。

前回のブログでクレーム対応のフローについて紹介しました。今回は「不具合原因の推定」で使用する故障解析手法の一つであるFTA(Fault Tree Analysis、故障の木解析)について、説明したいと思います。

続きを読む

「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定

みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。

今回は、パワー半導体(パワーデバイス単体やパワーモジュール)のスイッチング評価における電流測定について少しお話をしたいと思います。

パワー半導体のスイッチング評価に関するこれまでのブログは下記をご参照ください。

「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その1~
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その2~

続きを読む

半導体製品のESD/サージ対策

みなさん、こんにちは。第一技術部 光デバイス設計課長の小林です。
どうぞよろしくお願いします。

今回のブログは、半導体製品のESDやサージ対策についてご紹介したいと思います。半導体製品の故障原因の最も代表的なものとしてESDやサージによる半導体素子の劣化があげられます。まずは、ESDとサージについて簡単にご説明します。

続きを読む

超低抵抗評価サービス始めます!

みなさん、こんにちは!
WTI第二技術部カスタム技術課の川中です。

今回は、受託評価サービスとして開始する予定の、「超低抵抗評価サービス」について紹介していきますね。

みなさん、低抵抗って、どのようなイメージを持っていますか?大電流の検出では、mΩオーダーの抵抗を用い、I/V変換によって電流を検出するような用途でよく用いられます。詳しくは「シャント抵抗について ~高精度に抵抗値を測定したい方へ~」でも紹介をしていますのでご覧ください。

続きを読む

パワーコンディショナに求められる機能について(その2)

みなさんこんにちは。
2回目の登場となります電源設計課の清水です。

前回に続き、今回も太陽光発電に使われるパワーコンディショナ(パワコン)に求められる機能について紹介します。

【関連リンク】

続きを読む

WTIは持続可能な開発をサポートします

みなさん、こんにちは! 第一技術部光デバイス設計課の鳳山です。
入社一年目のときに投稿して以来、約3年ぶりの投稿です。

私は、お客様の事業場所に駐在し、お客様と共に業務を遂行するエンジニアリング部門に所属しています。主に半導体デバイスの開発設計業務に従事しており、お客様と共に開発品の特性評価や信頼性検証などを実施しています。(WTIの技術紹介パンフレット一覧はこちら

続きを読む

 © 2005 Wave Technology Inc.