みなさんこんにちは、第一技術部 高周波デバイス設計課の北村です。
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高周波デバイス設計課では、増幅素子をはじめとした、高周波で使われる半導体デバイスを扱っています。製品開発の過程では、ウエハの状態で高周波特性を測定する「オンウエハ評価」を行うこともあります。私はこれまでこのオンウエハ評価に携わってきました。この業務において、初めてオンウエハ評価を行う方が「難しい」と感じることが多いのが、RFプローブの取り扱いです。今回はこのRFプローブの取り扱いについてお話しさせていただきます。
みなさん、こんにちは。
電源設計課の坂東です。
前回はパワーコンディショナ(パワコン)についての説明とパワコン評価試験の概要、雷サージ試験についてお話しさせていただきました。
今回はパワコンの機能で重要な役割を担っている電圧検出回路について、お話しさせていただきます。
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こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田（でんだ）です。
以前、お仕事で微小電流測定器を作成しました。微小電流測定にも様々な方法がありますが、今回使用したのは“フィードバック方式”とよばれる測定方法です。今回はこの方式の基本的な回路についてご紹介します。
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皆さん、初めまして、入社3年目の蘇明明です。
私は中国出身、大学の専攻は情報システムでしたが、“電気回路設計”に憧れ、この会社に就職しました。
現在は、電源設計課に所属しており、日々電気回路の勉強しながら、業務に携わっている毎日です。
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みなさんこんにちは。
第二技術部の張です。
前回のブログでは、パワー半導体のスイッチング評価において、測定環境が重要であることをお話ししました。今回も前回に引き続き測定環境に関する話をさせていただきます。
パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが定量的にわからないと改善は難しいのです。
ということで、今回は回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします。
みなさん、こんにちは。電源設計課 渡邊です。
私が在籍する電源設計課は、AC-DCコンバータやDC-ACインバータなど各種のスイッチング電源を設計しており、あわせて電源特有の各種評価・試験を行っています。
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みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。
今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。
みなさん、はじめまして。システム設計課の栗坂です。
みなさんはじめまして。
みなさんはじめまして。