Wave Technology(WTI)-ウェーブ・テクノロジ

WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

今見ている波形は本当に正しい?

みなさんこんにちは。システム設計課の寺藤です。

みなさんが信号波形を観測する際、多くの場合はオシロスコープを使用されると思います。今日はそのオシロスコープで見ている波形は本当に正しいのか?ということについてお話しします。
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まず始めにオシロスコープ本体についてです。

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オンウエハRF測定はちょっとコツが要ります

みなさんこんにちは、第一技術部 高周波デバイス設計課の北村です。
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高周波デバイス設計課では、増幅素子をはじめとした、高周波で使われる半導体デバイスを扱っています。製品開発の過程では、ウエハの状態で高周波特性を測定する「オンウエハ評価」を行うこともあります。私はこれまでこのオンウエハ評価に携わってきました。この業務において、初めてオンウエハ評価を行う方が「難しい」と感じることが多いのが、RFプローブの取り扱いです。今回はこのRFプローブの取り扱いについてお話しさせていただきます。

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パワコンの機能 ~電圧検出について(その1)~

みなさん、こんにちは。
電源設計課の坂東です。

前回はパワーコンディショナ(パワコン)についての説明とパワコン評価試験の概要、雷サージ試験についてお話しさせていただきました。

今回はパワコンの機能で重要な役割を担っている電圧検出回路について、お話しさせていただきます。
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微小電流測定器の検討をしてみました♪

こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田(でんだ)です。

以前、お仕事で微小電流測定器を作成しました。微小電流測定にも様々な方法がありますが、今回使用したのは“フィードバック方式”とよばれる測定方法です。今回はこの方式の基本的な回路についてご紹介します。
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ノイズ対策に有効な部品(コイルのコア)

皆さん、初めまして、入社3年目の蘇明明です。

私は中国出身、大学の専攻は情報システムでしたが、“電気回路設計”に憧れ、この会社に就職しました。
現在は、電源設計課に所属しており、日々電気回路の勉強しながら、業務に携わっている毎日です。
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冬に多発する厄介な静電気のアレコレ

みなさん、はじめまして。システム設計課の栗坂です。
入社6年目で、現在はアナログ・デジタル機器の設計や評価を担当しております。どうぞ、よろしくお願いいたします。

今回は私が経験してきた業務の中から静電気放電(ESD:Electro-Static Discharge)に関する信頼性試験や保護設計についてお話しします。

寒くて空気の乾燥する冬、車や玄関のドアを開けようとした瞬間のパチッ!という静電気による痛みをみなさんもご経験されたことがあると思います。
私は帯電しやすい体質なのか1日数回は被害を被っています(笑)。

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EMS試験とは

みなさんはじめまして。
第一技術部 システム設計課の中村です。
よろしくお願いいたします。

私はEMI対策受託サービスを担当しておりますが、EMI(Electro Magnetic Interference)対策以外にもEMS(Electro Magnetic Susceptibility)対策の相談を受けることがあります。今回は、そのEMS試験についてお話しさせていただきます。

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「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい? ~その2~

みなさんこんにちは。
第二技術部の張です。

前回のブログでは、パワー半導体のスイッチング評価において、測定環境が重要であることをお話ししました。今回も前回に引き続き測定環境に関する話をさせていただきます。

パワー半導体のスイッチング評価を行う測定環境を改善するために配線を見直すことがありますが、実は測定系の回路インダクタンスの大きさが定量的にわからないと改善は難しいのです。

ということで、今回は回路インダクタンスの大きさを定量的に確認する方法についてお話しします。

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ブレーカーの種類と役割

みなさん、こんにちは。電源設計課 渡邊です。

私が在籍する電源設計課は、AC-DCコンバータやDC-ACインバータなど各種のスイッチング電源を設計しており、あわせて電源特有の各種評価・試験を行っています。
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試験の中には「異常試験」と呼ばれる、部品故障発生時の安全性について評価する過酷な試験も行っていたりもします。

このような過酷な試験の際には、大きな電流が流れたり大きな電圧が加わったりすることがあります。このような際に、評価設備を保護する重要な装置のひとつが「遮断器」で、「ブレーカー」と呼ぶほうが馴染みのある方も多いと思います。 今回はそのブレーカーのお話をしたいと思います。

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計測装置の自動制御

みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。

今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。

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