こんにちは。第二技術部　カスタム技術課の傳田（でんだ）です。
今回は車載用電子部品の信頼性試験規格についてお話しします。

WTIでは現在、「車載用電子部品規格準拠試験受託サービス」の立ち上げを進めています。これは、昨今増加傾向にあるAEC規格やAQG324規格に準拠した信頼性試験の需要に応えるための動きです。現在は、AEC-Q101のSSOP試験やAQG324のHTRB試験が実施できるよう、環境整備をしているところです。

みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。

パワー半導体（パワーデバイスやパワーモジュール）の信頼性試験について少しお話をしたいと思います。

パワー半導体の信頼性試験には、
　環境試験としては、温度サイクル試験などが、
　耐久試験としては、パワーサイクル試験、高温ゲートバイアス試験、高温逆バイアス試験など
があります。

こんにちは。WTI 第二技術部　カスタム技術課の白濱です。

今回はAEC（※）準拠試験のひとつである、SSOP試験についてご紹介します。

SSOPとは、Steady State Operatingの略で定常動作という意味です。つまり一定の状態で動作させる試験ということになります。これは電気及び温度ストレスによる耐性を評価するための試験になります。

みなさんこんにちは。システム設計課の米谷です。

イーサネットとは、主に建物内でパソコンや電子機器をケーブルで繋いで通信する有線LANの標準規格の一つで、最も普及している規格です。今回はこのイーサネットについてお話させていただきます。

（当社の電気設計受託サービス、サブスクエンジニアリングサービスはこちら）

皆様、こんにちは。光デバイス設計課の長冨です。
前回のブログでは発光素子（LD）の故障事例紹介でしたが、今回は半導体デバイスの耐水性について紹介したいと思います。

みなさんは半導体を製造するのに大量の水が必要なのはご存じですか？
微細な加工をおこなっている半導体にゴミなどの異物が付着すると、正常に動作しなくなってしまいます。

みなさん、こんにちは
パワーデバイス設計課の中松です。

今回のブログでは、ダイオードのせん頭サージ電流(I_FSM)についてお話ししたいと思います。

I_FSMは、図1のように商用周波数（50Hz or 60Hz）の正弦半波1サイクルでの最大許容電流値です。

みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。

さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか？
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。

みなさん、こんにちは。光デバイス設計課の山野です。

前回のブログでクレーム対応のフローについて紹介しました。今回は「不具合原因の推定」で使用する故障解析手法の一つであるFTA(Fault Tree Analysis、故障の木解析)について、説明したいと思います。

みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。

今回は、パワー半導体（パワーデバイス単体やパワーモジュール）のスイッチング評価における電流測定について少しお話をしたいと思います。

パワー半導体のスイッチング評価に関するこれまでのブログは下記をご参照ください。

「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい？　～その１～
「パワー半導体」のスイッチング評価は難しい？　～その２～

みなさん、こんにちは。第一技術部　光デバイス設計課長の小林です。
どうぞよろしくお願いします。

今回のブログは、半導体製品のESDやサージ対策についてご紹介したいと思います。半導体製品の故障原因の最も代表的なものとしてESDやサージによる半導体素子の劣化があげられます。まずは、ESDとサージについて簡単にご説明します。