皆様、こんにちは。光デバイス設計課の長冨です。
前回のブログでは発光素子（LD）の故障事例紹介でしたが、今回は半導体デバイスの耐水性について紹介したいと思います。

みなさんは半導体を製造するのに大量の水が必要なのはご存じですか？
微細な加工をおこなっている半導体にゴミなどの異物が付着すると、正常に動作しなくなってしまいます。

みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。

さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか？
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。

皆さんご無沙汰しております。第一技術部光デバイス設計課の日野です。

前回のブログで紹介した取り組みと似た事例となりますが、今回もお客様のお困りごとを解決するために、ゼロベースから開発した半導体製品用の回路基板を紹介します。

今回の事例は、“突入電流によるデバイスの偶発破壊をなくしたい”とお客様から相談を受け、当社で提案したものです。

みなさん、こんにちは。
2回目の登場になります。光デバイス設計課 佐々木です。

今回は、Raspberry Pi（ラズベリーパイ、略称ラズパイ）についてお話したいと思います。
まずはRaspberry Piって何？？？という方もおられると思います。私も全く知らなかった一人です。

Raspberry Piとはイギリスで学校教育用に開発されたシングルボードコンピュータ（むき出しのプリント基板に必要な部品のみ実装した簡単なコンピュータ）だそうです。

みなさん、こんにちは。光デバイス設計課の山野です。

前回のブログでクレーム対応のフローについて紹介しました。今回は「不具合原因の推定」で使用する故障解析手法の一つであるFTA(Fault Tree Analysis、故障の木解析)について、説明したいと思います。

みなさん、こんにちは！　第一技術部光デバイス設計課の鳳山です。
入社一年目のときに投稿して以来、約3年ぶりの投稿です。

私は、お客様の事業場所に駐在し、お客様と共に業務を遂行するエンジニアリング部門に所属しています。主に半導体デバイスの開発設計業務に従事しており、お客様と共に開発品の特性評価や信頼性検証などを実施しています。（WTIの技術紹介パンフレット一覧はこちら）

みなさん、こんにちは、第一技術部光デバイス設計課の伊藤です。

当社の事業は、大きく分けて2つの事業体系で成り立っています。一つはお客様からのご依頼内容に対して設計開発や評価解析を行い、出来上がったものや結果を納品する案件部門です。もう一つは、お客様の事業場所に駐在し、お客様と一緒に業務を遂行するエンジニアリング部門です。（WTIの技術紹介パンフレット一覧はこちら）

私は後者のエンジニアリング部門にて業務を遂行しており、業務を円滑かつ効率的に遂行するため、いろいろなツールを用いています。

みなさん　はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。

今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。

皆さま初めまして、第一技術部 光デバイス設計課の日野です。今回は当社が設計した機能性治具の取り組み事例を紹介します。

図1に示す治具基板は検討段階の模擬回路レベルのものです。治具の用途は、お客様が使用される部品の特定の特性項目について先行的に評価確認するためのものです。昨今は回路シミュレータで事前確認し、基板化すれば十分だと思います。

みなさん、はじめまして。WTI光デバイス設計課の山野です。どうぞよろしくお願いします。

私は品質保証関連の業務に従事しています。
品質保証関連の業務とは、企業が提供する製品の品質を保証する業務のことで、主な業務内容は“信頼性検証”と“クレーム対応”です。