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計測装置の自動制御

みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。

今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。

そこで使用する多数の計測器の自動制御系を構築するのですが、上記のような計測装置にはLANやUSBやイーサネット(古くはGPIBもですが)などの装置を制御できるインターフェースがありますのでこれを用いて装置間を接続し、制御プログラムで自動制御することができます。

 

図1 計測機器の自動化模式図

 

計測装置を自動制御したときのメリットは以下の4点です。

  1. 多くの計測器を一度に制御が可能となる。
  2. 測定時間や工数を削減できる。
  3. 測定データの再現性が高い。
  4. 専門知識がなくでも測定できる。

この中で最大のメリットは、“専門知識がなくても測定できる”ことです。
サンプルを治具にセットしてボタンを押すだけで、測定したい条件で電圧や電流などを測定することができます。また、測定データを取り込んでグラフ表示することが、素早く行えますのでとっても楽ですし、異常なデータをすぐに検知できるので効率的です。

最後にWTIでは、半導体部品に関する評価や解析用治具の設計・製作、効率的な評価設備構築(例えば自動評価系など)等のご提案も実施しています。
これらのお困りごとがございましたら、お気軽にWTIまでお問合せください。

 

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