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半導体部品の評価治具も設計できます!

皆さま初めまして、第一技術部 光デバイス設計課の日野です。今回は当社が設計した機能性治具の取り組み事例を紹介します。

図1に示す治具基板は検討段階の模擬回路レベルのものです。治具の用途は、お客様が使用される部品の特定の特性項目について先行的に評価確認するためのものです。昨今は回路シミュレータで事前確認し、基板化すれば十分だと思います。ただ、勘といいますか、感覚的な判断もありましたが、お客様からご相談をいただいた時点で、「まわり道でも基板化する前に、模擬回路で判断いただきたい」と感じてお勧めした事例です。幸いお客さまが意図した性能と精度が得られる目処が立ち、最小リスクで基板化までこぎつけました。

 

 

図1 治具基板(検討段階の模擬回路)

 

さて、肝心な「これは何するもの?」をざっくりご説明すると、お客様がテストしたい部品を既製の測定器に接続しても壊れないようにする回路です。低電圧で駆動する部品をテストする場合、部品の耐電圧を超えた電圧を印加する汎用装置や測定器につなぐことはできません。このような場合、汎用測定器の本来の印加電圧よりも低い駆動電圧を発生するための工夫が必要になります。この考えを基にやってみると意外に難しく、「この案件ブレークスルーできるのか?」と悩みもしました。

ですが、色んなICのデータシートに記載のあるアプリケーション例を紐解くうちに、なんと!アイデアが降りてきました。(詳細は割愛させていただきますが)それは、評価対象部品と測定器の間に、オペアンプやフォトカプラICで組めるシンプルな電子回路で疑似接続回路(本来ならいらないはずの回路です)を設けるというものでした。シンプルなアナログ回路もうまく組みあわせれば見事に力を発揮させることができます。これはまさに回路設計の醍醐味ですね!

 

図2 模擬回路の構成

 

最後にWTIでは、半導体部品に関する評価や解析用治具の設計・製作、故障解析、効率的な評価設備構築(例えば自動評価系など)等のご提案も実施しています。

これらのお困りごとがございましたら、お気軽にWTIまでお問合せください。

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