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WTIは技術者不足を解決する「開発設計促進業」です

「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定 その2 ~カレントトランスとロゴスキーコイルの特徴~

みなさんこんにちは
パワーデバイス設計課の伊達です。

前回のブログ「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定では、電流測定に使用するカレントトランスとロゴスキーコイルの特徴についてお話ししました。

今回は、ロゴスキーコイルを使用した場合のスイッチング評価についてお話します。

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オシロスコープを用いた波形測定の注意点

みなさんこんにちは。システム設計課の則信です。

今回のブログでは電気信号を測定する際に用いるオシロスコープの波形測定時の注意点についてお話しします。

 

● 波形測定時のノイズ

オシロスコープで波形を測定するときに高周波になるほど図1のようなリンギングノイズが発生しやすくます。また、周辺のノイズが多い場合には図2のように測定波形にノイズが重畳されることがあります。

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車載用電子部品の規格に準拠した試験サービス立ち上げに向けて

こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田(でんだ)です。
今回は車載用電子部品の信頼性試験規格についてお話しします。

WTIでは現在、「車載用電子部品規格準拠試験受託サービス」の立ち上げを進めています。これは、昨今増加傾向にあるAEC規格やAQG324規格に準拠した信頼性試験の需要に応えるための動きです。現在は、AEC-Q101のSSOP試験やAQG324のHTRB試験が実施できるよう、環境整備をしているところです。

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「パワー半導体」の信頼性試験について

みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。

パワー半導体(パワーデバイスやパワーモジュール)の信頼性試験について少しお話をしたいと思います。

パワー半導体の信頼性試験には、
 環境試験としては、温度サイクル試験などが、
 耐久試験としては、パワーサイクル試験、高温ゲートバイアス試験、高温逆バイアス試験など
があります。

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AEC準拠試験に「計測評価プラットフォーム」を活用♪

こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。

今回はAEC(※)準拠試験のひとつである、SSOP試験についてご紹介します。

SSOPとは、Steady State Operatingの略で定常動作という意味です。つまり一定の状態で動作させる試験ということになります。これは電気及び温度ストレスによる耐性を評価するための試験になります。

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イーサネット(Ethernet)について

みなさんこんにちは。システム設計課の米谷です。

イーサネットとは、主に建物内でパソコンや電子機器をケーブルで繋いで通信する有線LANの標準規格の一つで、最も普及している規格です。今回はこのイーサネットについてお話させていただきます。

(当社の電気設計受託サービスサブスクエンジニアリングサービスはこちら)

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半導体デバイスは水に弱いの?

皆様、こんにちは。光デバイス設計課の長冨です。
前回のブログでは発光素子(LD)の故障事例紹介でしたが、今回は半導体デバイスの耐水性について紹介したいと思います。

 

みなさんは半導体を製造するのに大量の水が必要なのはご存じですか?
微細な加工をおこなっている半導体にゴミなどの異物が付着すると、正常に動作しなくなってしまいます。

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通電試験でお困りじゃないですか?

みなさんこんにちは。光デバイス設計課の吉田です。
数年ぶり2回目の登場となります。

さて、みなさんは半導体デバイスや電子デバイスの信頼性試験の一環として通電試験などを実施されることはありませんか?
例えば、新製品の開発に伴う寿命試験や耐電圧・耐電流などの長期ストレス試験や不具合の解析評価など、開発や信頼性試験をご担当されている方でしたら色々な分野で通電試験を実施されることはよくあることではないかと思います。

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品質保証って何をするの?~故障解析手法 FTA編

みなさん、こんにちは。光デバイス設計課の山野です。

前回のブログでクレーム対応のフローについて紹介しました。今回は「不具合原因の推定」で使用する故障解析手法の一つであるFTA(Fault Tree Analysis、故障の木解析)について、説明したいと思います。

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