超低抵抗評価サービス

超低抵抗（微小抵抗）の評価でお困りではないでしょうか？
mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価は当社にご相談ください！
 
●超低抵抗（微小抵抗）評価サービスとは
●超低抵抗（微小抵抗）評価サービス活用例
●超低抵抗（微小抵抗）評価の課題
●こんなお客様にオススメです
●評価事例
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
 

超低抵抗（微小抵抗）評価サービスとは  

超低抵抗^※1は、主に電流検出用のシャント抵抗として用いられる抵抗です。近年では、電子デバイスの高性能化や電動化による大電流化、エネルギー効率の向上などの要求から抵抗値の小さなシャント抵抗を使用するニーズが高まっています。

当社では、超低抵抗の測定環境構築も含めて、温度特性などの評価を受託可能です。
材料メーカー様や、機器メーカー様などからも多くのご依頼実績がございます。

^※1超低抵抗とは : 弊社では、mΩ以下を超低抵抗と定義しています。 

 

超低抵抗（微小抵抗）評価サービス活用例

• 超低抵抗（公称値：数十µΩ、抵抗変動量：～数十nΩ）の測定
• 超低抵抗の温度特性・抵抗温度係数(TCR)の評価
• 配線引き出しパターンの違いによる特性評価
• 抵抗体材料の違いによる特性評価
• 精密抵抗の測定
• その他、超低抵抗に関してお気軽にお問い合わせください。
   
  ※評価事例も掲載しています。是非ご覧ください。

超低抵抗（微小抵抗）評価の課題  

超低抵抗の評価では、抵抗値が非常に小さいため、測定する電圧レベルがµV オーダになります。抵抗の変化率を測定するにはnV オーダの電圧変化を正確に測定する必要があり、熱起電力^※2などのノイズに簡単に埋もれてしまいます。

したがって、超低抵抗の評価には熱起電力によるエラーを排除した測定方法や、安定性の高い測定系が必要です。

^※2ゼーベック効果により、異なる種類の導体からなる閉回路の接点に温度差があると生じる起電力です。抵抗測定では、コネクタや電線、はんだなど様々な場所で熱起電力が発生し、大きな誤差要因となります。

こんなお客様にオススメです

• 超低抵抗の評価をしたいが、エラー要因を排除した評価方法や評価系の確立が分からない
• 評価系の立ち上げ（設備投資・人員確保・ノウハウ蓄積など）にコストがかかる
• 製品開発段階で複数個の抵抗から所望の特性の抵抗を選定したい

そんなときは…

超低抵抗（微小抵抗）評価サービスをご活用ください！
 
 

評価事例

[事例①]：抵抗体材料による温度特性の違い

公称抵抗値は等しく1 mΩで、抵抗体材料が異なる（アルクロム、マンガニン）抵抗の温度特性を弊社にて評価した結果が以下となります（下記表を参照）
温度範囲 -40 ℃ ～ 125 ℃

[測定結果]

◇着眼ポイント◇

材料によって温度特性カーブが大きく異なることが分かります。 温度特性カーブは、材料や抵抗器の構造、基板パターンなど様々な要因で変化します。 温度特性を実測することで、設計の最適化を図れます。

 

※ppm…百万分率。1 ppm = 1/1000000 = 0.0001 %
抵抗温度係数(TCR)は、温度変化1 ℃あたりの抵抗値変動が何ppmかという指標である。
したがって、X [ppm/℃]で表される。

 

[事例②]：抵抗温度係数(TCR)が20 ppm/℃ 未満の抵抗の温度特性

公称抵抗値 500 µΩ 抵抗温度係数(TCR) 20 ppm/℃未満 の抵抗の温度特性を評価しました。
温度範囲 -40 ℃ ～ 125 ℃

[測定結果]

◇着眼ポイント◇

図4では、わずか650 nΩの間の変動をしっかりと測定できています！ 同じ温度の測定値の差は最大でも40 nΩ程度と、高い再現性を得られました。 図5から、8 ppm/℃の抵抗温度係数（TCR）を測定できていることが分かります。

再現性確認のため、20 ℃ → -40 ℃ → 125 ℃ → -40 ℃ → 20 ℃　と温度を変化させて測定しています。

 

お客様からのご要望が急増している評価サービス

ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。		パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。		AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。		測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。		任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。

受託評価サービス

●受託評価サービスについて
●受託評価サービスのメリット
●お客様からのご要望が急増している評価サービス
●サービス事例

 

	ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。
	パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。
	AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託試験サービス。 半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
	半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。
	測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。

任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

受託評価サービスについて

【受託評価サービスとは】

半導体をはじめとする各種電子部品や電気製品の電気特性や温度特性、その他動作特性といった、製品の特性評価業務の請負サービスです。
お客様から受託した評価を完了後、当社にて評価レポートを作成します。

• • 評価環境の設計開発を伴う受託評価
    ◆　自動評価環境の構築
    ◆　評価用基板の回路/基板設計・製作
    ◆　計測評価用ソフトウェアの開発　※NI社のLabVIEW^TMを活用
    （PCベースの開発からリアルタイム性を必要とする組み込みベースの開発まで）
    ◆　測定対象製品へのプロービングや、配線引き出しに便利な治具の設計・製作
  • 環境試験槽と連動した評価及び信頼性試験
    　温度特性評価、信頼性評価など
  • パワーデバイスを含む車載電子部品の信頼性関連評価（AEC準拠の試験への対応）
  • リバースエンジニアリングと連動した評価のご提案
     
    ※LabVIEWは、NI社の登録商標です。

受託評価サービスのメリット

• 評価環境も当社にて準備できますので、評価サンプルをご準備いただくことで評価開始が可能です。
• 電気系の専門知識がなくても評価したい内容をお伝えいただければ評価方法や評価項目を立案いたします。
• 評価業務を当社に委託いただくことで、お客様は開発業務に注力いただくことができます。
• 開発設計を主力としている当社は、「設計者目線」で評価結果を分析いたします。
• 当社が保有する計測に特化したハードウェア/ソフトウェアのプラットフォームを活用し、最適な評価環境を構築します。
   
  その他、具体的なアイデアをお持ちでなくても、ご希望の内容をご相談いただければ、課題解決案をご提案します。

お客様からのご要望が急増している評価サービス

ダイオード、MOSFET、IGBTの各種パワーデバイス及びパワーモジュールの静特性、スイッチング特性をはじめ、さまざまな評価サービスをご提供。		パワーサイクル試験には、ショートパワーサイクル、ロングパワーサイクルといった2種類の試験があり、JEITA-ED-4701/601 602 603や、AEC-Q101等にて規格化。		AEC-Q101およびAQG-324に準拠した信頼性に関する受託評価サービス。半導体に関する知見に加え、長年培ってきた計測評価技術を活用。
半導体・電子部品・絶縁材料のリーク電流測定など、微小電流測定に関する受託評価サービス。µA以下の電流測定を必要とするようなご要望に対応。		測定環境構築も含めて、超低抵抗（微小抵抗）測定や温度特性などを行う受託評価サービス。mΩ以下（μΩやnΩ）クラスの評価に対応。		任意の大電流を単パルスや連続波形として試料に印加し、破壊耐量などを評価する受託評価サービス。1 kA以上やms以下の評価にも対応。

サービス事例

• パワーデバイス/パワーモジュール評価（静特性、動特性、各種信頼性）
• 超低抵抗評価
• 車載用半導体向け信頼性試験サービス（AEC-Q101、AQG-324準拠）
• 電子部品の各種信頼性試験
• 舵角(角度)センサの性能評価
• LEDチップの表面温度測定
• エレベータの位置検出センサ評価
• スマートフォン音質の温度・気圧依存性評価
• 無線電力伝送(WPT)の距離・指向性評価
• 電子たばこの電気的(温度)特性評価
• 美容機器の電気的評価
• 静電容量と温度の同期測定
• 磁気センサアレイによる磁気評価
• 市販電気製品に搭載された積層セラミックコンデンサ(MLCC)のメーカー依存性評価
• バッテリー監視基板(BMU)の評価
• 電気製品や部品のSパラメータ測定
• アナログフロントエンド(アナデジ混在)ICの評価
• フォトカプラの電気特性評価
• その他、各種ICの選別試験や、ICの評価基板を用いた特性評価　など

 

 

 WTIの技術、設備、設計/開発会社の使い方、採用関連など、幅広い内容を動画で解説しています。