みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。
今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。
こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。
突然ですが、皆さんは『信頼性試験』をご存知ですか？
ざっくり説明しますと、製品の信頼性（性能、耐久性、安全性、故障率など）を評価する様々な試験の総称です。主な目的は、設計どおりの性能となっているか確認することと、市場要求品質を満たしているかを評価することです。
続きを読む
はじめまして。第二技術部 カスタム技術課の傳田です。
2018年度新卒でWTIに入社して、今年で3年目に突入しています。カスタム技術課へ配属後は、主に自動計測システムや計測器制御用アプリケーション開発業務に従事しながら、「計測」に関する技術について日々勉強しております。
よろしくお願いいたします。
皆さんは大学の学生実験や中学・高校の物理の実験などで、こんな記憶はないでしょうか？
続きを読む
温度サイクル試験を行う際に、データ・ロガーでデータを収集したあとのデータ整理・解析は、どのようにするのが良いのでしょうか？
とにかくExcelにデータを移して、あとは根気強く欲しいデータを取り出したり、計算したり・・・、でしょうか？
続きを読む
初めまして。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。
皆さんはMOSFETやバイポーラトランジスタ等の半導体の電気特性を評価する際、どのような計測器を使用されていますか？
専用のテスタもありますが、手軽に評価できるカーブトレーサも便利ですよね♪
でもカーブトレーサを使用する時、「評価項目が多いから、手動で操作は面倒だな・・」、「評価数も多いから、もっと簡単に操作できたらいいな・・」と思ったことはありませんか？
続きを読む
以前、熱解析は、トラブルシュートのみならず、フロントローディング的に使うこともお勧めであるというお話をしました。
株式会社Wave Technology(WTI)の社長 石川高英です。
当社には、日頃から様々な開発設計のご依頼をいただいておりますが、その中には、「こういうものを測定したいのですが、可能でしょうか？」というお問い合わせもたくさんいただきます。
お客様社内ではその対象物を評価するための測定設備や技術をお持ちでないことから、当社に測定を依頼される場合もありますし、お客様企業内で測定するための計測システムのご提供を望まれる場合もあります。
続きを読む
みなさん、こんにちは。第二技術部電源設計課の田川です。
株式会社Wave Technologyの社長 石川高英です。
みなさんこんにちは。カスタム技術課の三谷です。