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みなさんこんにちは、通信機器設計一課の尾﨑です。     

今回はEMI(電磁妨害:Electro Magnetic Interference)対策についてお話しさせていただきます。

 

電子機器の開発では、EMI対策がますます重要になっています。特にEMI試験で不合格になってしまった場合、どのような手順で原因を特定し、効率的にリカバリーするかが開発スピードを左右します。

 

本ブログでは、当社が実際に行っている EMI対策の具体的な手順を工程別に解説します。EMIの基本から実践的なノイズ対策まで、EMI対策でお困りのエンジニアの方はぜひ参考にしてください。

みなさんこんにちは。第一技術部電源設計第三課の尾中です。

以前お話しさせていただきました”USBとコンプライアンステスト”では多くの

問い合わせをいただきありがとうございます。このブログではUSBについて

お話しさせていただきましたが弊社ではUSBだけでなくEthernetについての

コンプライアンステストも承っていますのでこちらも是非お問い合わせください。

(前回ブログ:WTIブログ『USBとコンプライアンステスト』)

話は戻りまして今回のブログではノイズの種類と規格~EMCとは?~についてお話しさせていただきます。

システム設計課の升野ですみなさん、こんにちは。システム設計課の升野です。

今回は、EMI規格(電磁妨害規格)についてご紹介いたします。

EMI(電磁妨害:Electromagnetic Interference)とは、電子機器が発する電磁波が他の機器に悪影響を与える現象のことで、EMI規格はその影響を最小限に抑えるために設けられた基準です。電子機器を設計・製造するにあたり必須の規格となりますので、今回のブログでご紹介いたします。
また、WTIでは、EMI規格(電磁妨害規格)に準拠した放射EMI・伝導EMI試験を実施できる簡易電波暗室設備を所有しています。WTIで対応できるEMI規格についてもご紹介いたしますので、ぜひ最後までご覧ください。

今回は2端子対回路の中にキャパシタCを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

 

今回は2端子対回路の中にキャパシタCを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

 

今回は2端子対回路の中に実際のインダクタLを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

 

今回は2端子対回路の中にインダクタLを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

 

テクノシェルパ技術コンサルタントの原田です。

2回シリーズのEMIフィルタの評価指標と実際の効果について、前回はEMIフィルタの評価指標の説明を致しました。今回は評価指標の一つとしての減衰量と実際の効果を比較し、効果的なノイズ対策のために考慮すべきことを述べたいと思います。

#083 EMI対策 ~ Sパラメータ その2 ~)より以下の式から、並列素子のSパラメータを求めます。

 

 

今回は2端子対回路の中にキャパシタCを実際の等価素子に置き換えたときの反射損失と通過損失を求めます。

 

 

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