今回は2端子対回路の中にキャパシタCを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

今回は2端子対回路の中に実際のインダクタLを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

今回は2端子対回路の中にインダクタLを並列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

（#083　EMI対策　～　Sパラメータ　その2　～）より以下の式から、並列素子のSパラメータを求めます。

今回は2端子対回路の中にキャパシタCを実際の等価素子に置き換えたときの反射損失と通過損失を求めます。

今回は2端子対回路の中にキャパシタCを直列接続したときの反射損失と通過損失を求めます。

前回（085　EMI対策　～直列素子のSパラメータ（インダクタ編2）～）では2端子対回路の中にインダクタLを直列接続したときの反射損失と通過損失を求めました。この章では、実際のインダクタLに寄生する浮遊容量C_O (ストレーキャパシティーとよぶ)と等価直列抵抗Rs(ESR)と等価並列抵抗Rp(EPR)を想定した場合の反射損失と通過損失を求めます。

前回（084　EMI対策　～直列素子のSパラメータ（インダクタ編）～）で求めた式S₁₁とS₂₁をExcelの複素関数を使って反射損失（リターンロスまたは入力反射特性とよぶ）と通過損失（インサーションロスまたは通過特性とよぶ）を求めます。

前回（#083　EMI対策　～　Sパラメータ　その2　～）では以下のような式を求めました。

#082　EMI対策　～　Sパラメータ　その１　～　に続いて、今回もSパラメータです。