車載用半導体の信頼性試験（AEC-Q101、AQG-Q324）項目一覧
試験項目一覧
AEC-Q101 試験項目一覧
こんにちは、技術教育センターの原田です。
うれしいお知らせです。新たな一歩が始まりました。当社では、24年度の新入社員研修がスタートしました！
2024年3月19日のブログ“1年間の新人研修が終わりを迎えます”で河野から23年度の研修総括がされたばかりですが、4月になって新たなメンバーが加わり、心機一転、次なるステージの幕開けです。
みなさんこんにちは
パワーデバイス設計課の伊達です。
前回のブログ「パワー半導体」スイッチング評価の電流測定では、電流測定に使用するカレントトランスとロゴスキーコイルの特徴についてお話ししました。
今回は、ロゴスキーコイルを使用した場合のスイッチング評価についてお話します。
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みなさん こんにちは。技術教育センターの河野です。
約1年ぶりのブログとなります。
昨年の4月に6名の新入社員が当社に入社され、ほぼ１年が経過しようとしています。当社では1年間研修生として配属先でのOn the Job Training(OJT)に加え、技術教育センターが主催するOff the Job Training(Off-JT)を実施します。この1年間でさまざまな研修メニュー(Off-JT)を実施しました。それらをご紹介します。
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みなさんこんにちは。Wave Technologyの森です。
今回のブログでは、EOL案件を一例にWTIのサービスをご紹介いたします。当社のサービスを知っていただき、ご活用いただくことで、とどまることを知らない技術者不足や開発リソース不足でお困りのお客様のお役に少しでも立てれば幸いです。（WTIのEOL対応サービス（生産中止・ディスコン）はこちら）
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みなさんこんにちは。営業の舟津です。
今回は、パワー半導体の熱抵抗についてお話をしたいと思います。
大電力を制御するためのMOSFETやIGBTなど、パワー半導体素子を使った回路では、その素子に加わる高電流・高電圧によって電力損失が生じ、高温で動作しますので、素子自体が定格温度内になっているかを確認する必要があります。
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こんにちは。電源設計課の久保です。ブログを書き始めてから、地道に電源に関わる勉強を続けております。前回までは、制御理論に関する勉強をしていましたが、近頃はパワー半導体デバイスに関する勉強を始めました。
パワー半導体デバイスは、パワーエレクトロニクスでは非常に重要な部品の一つです。今回は、そのパワー半導体デバイスに関する話をしたいと思います。
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電源設計課の道津です。当社ブログをご覧くださり誠にありがとうございます。
今回のブログでは、パワエレ用スイッチングデバイスとしてのGaN-FETについて、少しお話しさせていただきます。
【関連リンク】
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みなさんこんにちは。
第二技術部の中松です。
パワー半導体（パワーデバイスやパワーモジュール）の信頼性試験について少しお話をしたいと思います。
パワー半導体の信頼性試験には、
環境試験としては、温度サイクル試験などが、
耐久試験としては、パワーサイクル試験、高温ゲートバイアス試験、高温逆バイアス試験など
があります。
みなさんこんにちは。技術教育センターの前川繁登です。
当センターは新入社員の技術研修も担当していまして、本年度も６名の新入社員が入社し、４月は元気に集合研修を受けました。今回はその研修の様子をご紹介したいと思います。
(WTIの新卒採用ページはこちら)
このブログでは、当社メインキャラクターの「なみりん」（当社へ入社志望の女の子）と、イッくんとのインタビュー形式でお送りします。（イッくんは筆者のニックネームです（イクセイ））
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