カスタム計測サービスのご紹介【選別検査システム編】
2021年04月09日
こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。
弊社では、カスタム計測サービスとして、お客様のご要望にあわせた試験環境の構築をご提案しています。半導体などの一般的な評価だけでなく、高感度測定や大電流、高電圧のような特殊測定にも幅広く対応しています。
「設備投資はできないけれど、カスタム対応の必要な評価を行いたい」とお悩みのお客様に特にオススメです。
当社のカスタム計測システム・受託評価はコチラ
こんにちは。WTI 第二技術部 カスタム技術課の白濱です。
弊社では、カスタム計測サービスとして、お客様のご要望にあわせた試験環境の構築をご提案しています。半導体などの一般的な評価だけでなく、高感度測定や大電流、高電圧のような特殊測定にも幅広く対応しています。
「設備投資はできないけれど、カスタム対応の必要な評価を行いたい」とお悩みのお客様に特にオススメです。
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こんにちは。第二技術部 カスタム技術課の傳田(でんだ)です。
以前、お仕事で微小電流測定器を作成しました。微小電流測定にも様々な方法がありますが、今回使用したのは“フィードバック方式”とよばれる測定方法です。今回はこの方式の基本的な回路についてご紹介します。
(当社のカスタム計測システム・受託評価はコチラ)
みなさん はじめまして、光デバイス設計課の大西です。
光デバイス設計課では主に光素子の開発や評価、機構設計などを行っています。
今回は、光デバイスに関する計測装置の自動制御についてご紹介したいと思います。
光デバイスの機能確認としては、光出力、受光感度、周波数特性などの複数の特性を測定・評価します。そして、これらの特性を評価するにはDC電源や温度コントローラ―、光コンポーネントアラナイザなど多数の計測装置を使用します。サンプル数が2,3個であれば手動による測定でもいいのですが、製品の特性バラツキ確認や特性を改善するとなると多数のサンプルの測定が必要になります。こうなるとかなりの時間を要しますので手動測定ではなく自動測定の出番となります。