株式会社Wave Technologyは"技術"で御客様に満足と付加価値を創造する会社です。

本システムは、ICパッケージの表面温度のシミュレーションとの整合確認や電子機器の熱測定等、高速・高精度な熱の計測NEEDSに最適なシステムです。

電子機器を使って計測・分析できるものであれば対応可能です。システムのカスタマイズにも柔軟に対応致します。

例＞電流・電圧・抵抗・容量,圧力,音,濃度,エアフロー,光束・照度,音・振動等の計測・集録・解析等の、計測・分析・集録処理。

システム外観

• 高速・高精度熱応答；
  特殊熱電対との組合せで、高速・高精度応答を実現。
  • 10msecの高速応答（業界最高レベル）
  • ±0.05℃の高精度測定（熱電対自体の絶対精度は±0.5℃を考慮下さい）
• 多チャンネル・長時間のData集録；
  8chの入力に、高速応答状態で1hr以上の連続Data採取が可能。
• 設備の軽量、コンパクト化；
  ナショナルインスツルメンツ製ボード式ハードウエアを中心にシステムを構成。
  可搬性に優れた構成です。
• 優れたビューワー機能；
  採取Dataの任意ポイントを瞬時に抽出。
• アプリケーションのカスタマイズ設計可能；
  計測制御に強みを持つ、ナショナルインスツルメンツ製LabVIEW^TMを採用。
  アプリケーションのカスタマイズにも柔軟に対応。
  
  「LabVIEWは、National Instruments Corporationの商標です」
• 電子機器を使って計測・分析できるものであれば対応可能；
  システムのカスタマイズにも柔軟に対応可能。
  • 例＞電流・電圧・抵抗・容量,圧力,音,濃度,エアフロー,光束・照度,音・振動等の計測・集録・解析の各処理。

＜LSI放熱特性測定例＞

温度測定データ（汎用熱電対との比較）